[发明专利]晶圆贴合方法、装置及可读存储介质有效
申请号: | 201811492952.4 | 申请日: | 2018-12-05 |
公开(公告)号: | CN109637950B | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 黎理明;蒋仟;黎理杰 | 申请(专利权)人: | 深圳源明杰科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;G06K9/00;G06K9/32;G06K19/077 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 贴合 方法 装置 可读 存储 介质 | ||
本发明公开了一种晶圆贴合方法,该方法包括步骤:通过第一CCD视觉定位相机定位天线基材的位置和晶圆盘的位置;基于所述天线基材的位置和所述晶圆盘的位置,控制所述晶圆盘移动至指定位置;当确定所述晶圆盘位于所述指定位置时,控制所述晶圆盘对应的顶针,将所述晶圆盘中待顶出晶圆顶出,并贴合到所述天线基材上,得到贴合产品。本发明还公开了一种晶圆贴合装置及可读存储介质。本发明在确定天线基材和晶圆盘的位置后,控制晶圆盘移动至指定位置,采用顶针直接将晶圆盘中的晶圆顶出到天线基材的方式,省去吸料装置吸取晶圆、翻转晶圆和定位贴合位置的步骤,提高了晶圆贴合效率,且提高了贴合精度。
技术领域
本发明涉及电子标签技术领域,尤其涉及一种晶圆贴合方法、装置及可读存储介质。
背景技术
在电子标签制造业中,RFID(Radio Frequency Identification,射频识别)标签封装设备的贴合工艺,传统工序是在天线基材对应的贴合位置上进行点胶,使每一个贴合位置都带有胶点,然后通过顶针从下往上将晶圆从晶圆盘中顶出,接着利用吸料装置将顶出的晶圆吸取,并翻转180°,完成取晶圆的操作,再定位天线基材上的贴合位置,再利用另一吸料装置吸取晶圆,将晶圆贴合在贴合位置上,完成晶圆的贴合。整个贴合过程工序多,时间长。
在实际生产中,电子标签应用广,需求大,目前的贴合工艺明显无法满足日渐增产的需求,且贴合精度不高,急需一种贴合速度快,且精度高的贴合工艺。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种晶圆贴合方法、装置及可读存储介质,旨在解决现有的晶圆贴合方式不够快速且精度低的技术问题。
为实现上述目的,本发明提供了一种晶圆贴合方法,所述晶圆贴合方法包括:
通过第一CCD视觉定位相机定位天线基材的位置和晶圆盘的位置;
基于所述天线基材的位置和所述晶圆盘的位置,控制所述晶圆盘移动至指定位置;
当确定所述晶圆盘位于所述指定位置时,控制所述晶圆盘对应的顶针,将所述晶圆盘中待顶出晶圆顶出,并贴合到所述天线基材上,得到贴合产品。
优选地,所述基于所述天线基材的位置和所述晶圆盘的位置,控制所述晶圆盘移动至指定位置包括:
基于所述天线基材的位置和所述晶圆盘的位置,确定所述晶圆盘的位置与所述天线基材的位置是否匹配;
若否,则计算所述天线基材的位置与所述晶圆盘的位置的相对距离;
根据所述相对距离,控制所述晶圆盘移动至指定位置。
优选地,所述确定所述晶圆盘的位置与所述天线基材的位置是否匹配的步骤包括:
确定所述晶圆盘中待顶出晶圆的位置是否对准所述天线基材对应的胶点位置,其中,若是,则确定所述晶圆盘的位置与所述天线基材的位置匹配。
优选地,所述当确定所述晶圆盘位于所述指定位置时,控制所述晶圆盘对应的顶针,将所述晶圆盘中待顶出晶圆顶出,并贴合到所述天线基材上,得到贴合产品的步骤包括:
通过第二CCD视觉定位相机,确定所述待顶出晶圆的位置;
基于所述待顶出晶圆的位置,控制所述吸盘吸住所述待顶出晶圆对应的晶圆薄膜;
控制所述顶针,将所述待顶出晶圆从所述晶圆薄膜中顶出,并贴合到所述天线基材对应的胶点上,得到贴合产品。
优选地,所述晶圆贴合装置包括点胶机,在贴合之前,所述方法还包括:
当检测到天线基材时,确定所述天线基材对应的贴片位置;
基于所述贴片位置,控制所述点胶机在所述贴片位置上进行点胶。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳源明杰科技股份有限公司,未经深圳源明杰科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811492952.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种RTA退火炉校温方法
- 下一篇:一种用于清洗晶圆的产品及其去应力加工方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造