[发明专利]基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法在审

专利信息
申请号: 201811496732.9 申请日: 2018-12-07
公开(公告)号: CN109596069A 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 刘俭;李勇;王伟波 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 崔自京
地址: 150000 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 光栅 编码孔径 扭曲 恢复 物体相位 探测器 算法 相位恢复算法 成像领域 传统相位 相位恢复 复振幅 探测面 相干 传感 准直 光照 扫描 探测 压缩
【权利要求书】:

1.一种基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤a、首先搭建实验设备,在传统相位恢复设备中增加编码孔径和扭曲光栅,所述编码孔径和扭曲光栅依次设置于物体与探测器之间;

步骤b、入射光波通过光栅生成多种不同阶次的衍射光,不同阶次的衍射光汇聚到探测器上的离焦距离不同,形成不同的自图像,划分这些自图像;

步骤c、根据传统的多距离相位恢复算法恢复出编码孔径平面处的复振幅;

步骤d、根据压缩传感算法从编码孔径平面处的复振幅进一步恢复出物体的复振幅。

2.根据权利要求1所述的基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法,其特征在于,所述编码孔径为专门设计的图案或随机图案,透光面积与不透光面积之比为1:4。

3.根据权利要求1所述的基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法,其特征在于,所述光栅将入射光波不同级次分别聚焦到所述探测器的不同位置上。

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