[发明专利]基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法在审

专利信息
申请号: 201811496732.9 申请日: 2018-12-07
公开(公告)号: CN109596069A 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 刘俭;李勇;王伟波 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 代理人: 崔自京
地址: 150000 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 光栅 编码孔径 扭曲 恢复 物体相位 探测器 算法 相位恢复算法 成像领域 传统相位 相位恢复 复振幅 探测面 相干 传感 准直 光照 扫描 探测 压缩
【说明书】:

一种基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法,属于相位恢复成像领域。本发明解决了传统相位恢复算法物体需小于探测面的问题。本发明首先在样品和探测器之间依次放置一个编码孔径和一个扭曲光栅;然后利用准直部分相干光照明样品,通过编码孔径和扭曲光栅被探测器接受;最后通过相位恢复算法和压缩传感算法恢复样品的复振幅。本发明可以一次恢复相当于探测面大小的样品并且不需要扫描。

技术领域

基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法属于相位恢复成像领域,是一种计算图像重建技术。

背景技术

相位恢复作为一种图像重建技术被广泛应用于生物、材料等各种领域,该技术可以从频谱强度中恢复出物体的复振幅,而且实验设备简单,很多时候不需要透镜,因此没有像差,但是该技术恢复的物体尺寸相对较小(小于探测器面4倍以上),或者需要扫描物体以解决恢复物体尺寸较小的问题,但是这种方法会降低系统的时间分辨率。

发明内容

本发明公开了一种基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法,该技术通过使用编码孔径解决物体尺寸较小的问题,通过光栅一次成像多成像距离强度图,解决相位恢复算法需要移动探测器分时探测不同成像距离的频谱强度问题。

本发明的目的是这样实现的:

基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复,包括以下步骤:

步骤a、首先搭建实验设备,在传统相位恢复设备中增加编码孔径和扭曲光栅,所述编码孔径和扭曲光栅依次设置于物体与探测器之间;

步骤b、入射光波通过光栅生成多种不同阶次的衍射光,不同阶次的衍射光汇聚到探测器上的离焦距离不同,形成不同的子图像,并划分这些子图像;

步骤c、根据传统的多距离相位恢复算法恢复出所述编码孔径平面处的复振幅;

步骤d、根据压缩传感算法从所述编码孔径平面处的复振幅进一步恢复出物体的复振幅。

优选的,编码孔径为专门设计的图案或随机图案,透光面积与不透光面积之比为1:4。

优选的,所述扭曲光栅的引入将入射光波不同级次分别聚焦到所述探测器的不同位置,一次实现传统相位恢复中的多距离探测。

本发明首先在样品和探测器之间依次放置一个编码孔径和一个扭曲光栅;然后利用准直部分相干光照明样品,通过编码孔径和扭曲光栅被探测器接受;最后通过相位恢复算法和压缩传感算法恢复样品的复振幅,在传统相位恢复技术中加入编码孔径,可以克服由于恢复物体尺寸较小的问题,并且由于扭曲光栅的引入,一次成像多距离频谱强度图可以提高系统时间分辨率。可以一次恢复相当于探测面大小的样品的相位,并且不需要探测器对样品进行移动扫描。

附图说明

图1是本发明基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法的光路示意图;

图2是本发明基于扭曲光栅和编码孔径的物体相位恢复方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例进行详细说明,以便对本发明的目的、技术方案有更深入的理解。

具体实施步骤说明如下:

步骤a、首先根据图1所示搭建实验设备,在传统相位恢复设备中增加编码孔径和扭曲光栅,所述编码孔径和扭曲光栅依次设置于物体与探测器之间;

步骤b、由于光栅的存在,不同阶次的衍射光汇聚到探测器上的离焦距离不同,形成不同的自图像并划分这些自图像;

步骤c、根据传统的多距离相位恢复算法恢复出编码孔径平面处的复振幅;

步骤d、根据压缩传感算法从编码孔径平面处的复振幅进一步恢复出物体的复振幅。

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