[发明专利]电容芯温处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种电容芯温处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质，通过利用母线电容内部器件之间的层叠位置关系等不同的方式获得母线电容内部器件的温度，并对比由不同方式所获得的这些温度，若对比结果小于预测值而输出合格数据，则说明了所获得的对应于母线电容内部器件的温度最准确、母线电容内部器件间的层叠位置关系最优，从而能够为对母线电容的优化提供数据基础，大大节省开发费用和电容成本。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，尤其是一种电容芯温处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

随着电动汽车的普及和快速发展，电动汽车的可靠性与安全性问题不容忽视，电机控制器作为整车中非常关键的零部件之一，其可靠性和寿命要求也越来越严苛，母线电容作为电机控制器的关键零部件，其可靠性与安全性问题更加不容忽视。由于汽车工况复杂，目前母线电容的寿命验证和估算处理，都停留在大量电容形式的实验测试验证上，如果通过苛刻条件的验证，在一定程度上可以提供稳定可靠的母线电容设计方案，但这会增加电容设计开发费用以及大量测试验证数据的时间花费，并且现有的这种测试方式，无法精准得到母线电容在实际工作时的温升情况，这样的验证最终会导致电容单体成本的增加，导致产品没有竞争力，同时使得产品的过设计会比较严重。

发明内容

为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种电容芯温处理方法、装置、设备及计算机可读存储介质，能够准确获得母线电容内部器件的温度，为对母线电容的优化提供数据基础，从而能够节省开发费用和电容成本。

本发明解决其问题所采用的技术方案是：

第一方面，本发明提供了一种电容芯温处理方法，包括：

获得设置于母线电容内部的第一器件的第一温度Ta；

获得设置于母线电容内部的第二器件的第二温度Tb；

根据所述第二温度Tb、所述第一器件通过所述第二器件至母线电容散热面的热阻以及所述第一器件的功率损耗，获得第一器件的预测温度Ta1，若第一温度Ta和预测温度Ta1的误差小于预设值，则输出合格数据；其中，所述第一器件、所述第二器件和母线电容散热面层叠设置。

进一步，所述获得设置于母线电容内部的第一器件的第一温度Ta，包括：

根据传感模块获取所述第一器件的第一温度Ta；

或者

根据第二温度Tb、所述第一器件至所述第二器件的热阻和所述第一器件的功率损耗，获得所述第一温度Ta。

进一步，所述获得设置于母线电容内部的第二器件的第二温度Tb，包括：

根据传感模块获取所述第二器件的第二温度Tb；

或者

根据母线电容的散热面温度Ts、所述第二器件至母线电容散热面的热阻和所述第二器件的功率损耗，获得所述第二温度Tb；其中，所述散热面温度Ts通过传感模块获取。

第二方面，本发明还提出了一种电容芯温处理装置，包括处理器，所述处理器用于：

获得设置于母线电容内部的第一器件的第一温度Ta；

获得设置于母线电容内部的第二器件的第二温度Tb；

根据所述第二温度Tb、所述第一器件通过所述第二器件至母线电容散热面的热阻以及所述第一器件的功率损耗，获得第一器件的预测温度Ta1，若第一温度Ta和预测温度Ta1的误差小于预设值，则输出合格数据；其中，所述第一器件、所述第二器件和母线电容散热面层叠设置。

进一步，所述处理器获得设置于母线电容内部的第一器件的第一温度Ta，包括：