[发明专利]一种背光检中缺陷显示方法在审
| 申请号： | 201811524227.0 | 申请日： | 2018-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN109613004A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 陈武;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 胡琦旖 |
| 地址： | 430070 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 缺陷图 缺陷显示 背光 第一区域 图档 缺陷检测技术 缺陷检测系统 工作效率 缺陷评估 缺陷坐标 人眼疲劳 时间成本 性能测试 增强处理 截取 放大 绘制 缓解 | ||
1.一种背光检中缺陷显示方法，其特征在于，包括以下步骤：
根据AOI检测得到的缺陷坐标信息，在BLU图档中截取第一区域，获得第一缺陷图；
对所述第一缺陷图进行放大或增强处理，得到第二缺陷图；
将所述第二缺陷图绘制于所述BLU图档的所述第一区域中，得到缺陷显示图。
2.根据权利要求1所述的背光检中缺陷显示方法，其特征在于，在BLU图档中截取第一区域之前，还包括以下步骤：
在BLU图档的显示区域内绘制九宫格线。
3.根据权利要求1所述的背光检中缺陷显示方法，其特征在于，所述根据AOI检测得到的缺陷坐标信息，在BLU图档中截取第一区域具体为：获取缺陷的坐标中心点，从所述坐标中心点向外扩充m个像素点，截取大小为2m*2m的第一区域。
4.根据权利要求1所述的背光检中缺陷显示方法，其特征在于，对所述第一缺陷图进行放大或增强处理包括：
根据所述第一缺陷图获取缺陷面积；
将所述缺陷面积与预设像素进行比较，若小于所述预设像素，则对所述第一缺陷图进行放大处理。
5.根据权利要求4所述的背光检中缺陷显示方法，其特征在于，所述放大处理采用双线性插值算法。
6.根据权利要求1所述的背光检中缺陷显示方法，其特征在于，对所述第一缺陷图进行放大或增强处理包括：
根据所述第一缺陷图获取缺陷对比度；
将所述缺陷对比度与预设灰阶差进行比较，若小于所述预设灰阶差，则对所述第一缺陷图进行增强处理。
7.根据权利要求6所述的背光检中缺陷显示方法，其特征在于，所述增强处理采用区域灰度拉伸。
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