[发明专利]一种背光检中缺陷显示方法

说明书

本发明属于缺陷检测技术领域，公开了一种背光检中缺陷显示方法，包括以下步骤：根据AOI检测得到的缺陷坐标信息，在BLU图档中截取第一区域，获得第一缺陷图；对第一缺陷图进行放大或增强处理，得到第二缺陷图；将第二缺陷图绘制于BLU图档的第一区域中，得到缺陷显示图。本发明能够极大地缓解人眼疲劳，提高工作效率，降低时间成本，能够快速、准确地进行缺陷评估，进而提高AOI缺陷检测系统性能测试的效率和准确性。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种背光检中缺陷显示方法。

背景技术

在BLU(Back Light Unit，背光源组件)制程中，从模组框往上，会依次增加反射片、导光板、扩散片、棱镜片、导光膜等，每一层片材的加入都可能引起脏污、异物、折痕、划伤等缺陷，而位于不同层的缺陷具有形状不规则、大小不均匀、位置不固定、对比度低且不一致的特性。在AOI(Automatic Optic Inspection，自动光学检测)检测过程中，机台检出后，需要人眼观察图档上缺陷的位置及特征，然后在对应的位置去搜寻实际背光上的缺陷信息，从图1可以看出，BLU图档缺陷对比度很低，边缘模糊不清，肉眼不容易辨认，长期搜索也会导致视觉疲劳，降低效率，同时会严重影响产能。此外，随着制程的更新换代，各种不可预知的缺陷也会伴随产生，常规图档显示缺陷已经不再适应AOI检测要求。因此，我们需要寻求一种更高效、更稳定的缺陷显示方法。

发明内容

本申请实施例通过提供一种背光检中缺陷显示方法，解决了现有技术中BLU缺陷检测效率较低的问题。

本申请实施例提供一种背光检中缺陷显示方法，包括以下步骤：

根据AOI检测得到的缺陷坐标信息，在BLU图档中截取第一区域，获得第一缺陷图；

对所述第一缺陷图进行放大或增强处理，得到第二缺陷图；

将所述第二缺陷图绘制于所述BLU图档的所述第一区域中，得到缺陷显示图。

优选的，在BLU图档中截取第一区域之前，还包括以下步骤：

在BLU图档的显示区域内绘制九宫格线。

优选的，所述根据AOI检测得到的缺陷坐标信息，在BLU图档中截取第一区域具体为：获取缺陷的坐标中心点，从所述坐标中心点向外扩充m个像素点，截取大小为2m*2m的第一区域。

优选的，对所述第一缺陷图进行放大或增强处理包括：

根据所述第一缺陷图获取缺陷面积；

将所述缺陷面积与预设像素进行比较，若小于所述预设像素，则对所述第一缺陷图进行放大处理。

优选的，所述放大处理采用双线性插值算法。

优选的，对所述第一缺陷图进行放大或增强处理包括：

根据所述第一缺陷图获取缺陷对比度；

将所述缺陷对比度与预设灰阶差进行比较，若小于所述预设灰阶差，则对所述第一缺陷图进行增强处理。

优选的，所述增强处理采用区域灰度拉伸。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

在本申请实施例中，首先根据AOI检出的缺陷坐标信息，在BLU图档中提取缺陷小图，然后对缺陷小图进行放大或增强处理，再将处理后的缺陷小图还原到BLU图档中，最终达到增强显示的目的，从而帮助人员更加快速、准确地查找缺陷特征并标记缺陷。本发明能够极大地缓解人眼疲劳，提高工作效率，能够降低时间成本，能够快速、准确地进行缺陷评估，进而提高AOI缺陷检测系统性能测试的效率和准确性。

附图说明