[发明专利]磁盘装置用的热致动器控制值的设定方法在审
申请号: | 201811531704.6 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN110827862A | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 渡边彻 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G11B5/60 | 分类号: | G11B5/60;G11B5/48;G11B5/58 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘静;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁盘 装置 热致动器 控制 设定 方法 | ||
1.一种磁盘装置用的热致动器的控制值的设定方法,
在设定所述热致动器的控制值的情况下,在磁盘的半径方向上至少五个以上半径位置处进行曲线拟合,所述曲线拟合是使用在通过所述热致动器使磁头与所述磁盘接触时向所述热致动器提供的电力以及二次以上的函数的曲线拟合,
在各电力与所述二次以上的函数的拟合残差的RMS的Z值超过了预定值的情况下,判定为检测到异常接触。
2.根据权利要求1所述的热致动器的控制值的设定方法,
在所述函数的系数的Z值超过了所述预定值的情况下,也判定为检测到所述异常接触。
3.根据权利要求1或2所述的热致动器的控制值的设定方法,
在作为与所述函数的系数间相关线的距离的偏离量的Z值超过了所述预定值的情况下,也判定为检测到所述异常接触。
4.根据权利要求1所述的热致动器的控制值的设定方法,
针对各所述半径位置,依次将该半径位置的值除外来进行所述曲线拟合,评价所述拟合残差的RMS的Z值,
将所述RMS的Z值被评价为最小值的半径位置判定为异常接触半径位置。
5.根据权利要求4所述的热致动器的控制值的设定方法,
针对各所述半径位置,依次将该半径位置的值除外来进行所述曲线拟合,评价所述拟合残差的RMS的Z值和所述曲线的系数的Z值的总和,
将总和Z值被评价为最小值的半径位置判定为所述异常接触半径位置。
6.根据权利要求4或5所述的热致动器的控制值的设定方法,
针对各所述半径位置,依次将该半径位置的值除外来进行所述曲线拟合,评价所述拟合残差的RMS的Z值和作为与所述曲线的系数间的相关关系的距离的Z值的总和,
将总和Z值被评价为最小值的半径位置判定为所述异常接触半径位置。
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