[发明专利]磁盘装置用的热致动器控制值的设定方法

说明书

实施方式提供磁盘装置用的热致动器控制值的设定方法，在设定磁盘用的热致动器的控制值的情况下，能够高精度地检测异常接触。在实施方式的设定方法中，在设定热致动器的控制值的情况下，在磁盘的半径方向上至少五个以上半径位置处进行曲线拟合，所述曲线拟合是使用通过热致动器使磁头与磁盘接触时向热致动器提供的电力和二次以上的曲线的曲线拟合，在各电力与二次以上的曲线的拟合残差的RMS的Z值超过了预定值的情况下，判定为检测到异常接触。

关联申请

本申请享受以日本专利申请2018-152429号(申请日：2018年8月13日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。

技术领域

实施方式涉及磁盘装置用的热致动器控制值的设定方法。

背景技术

在现有的磁盘装置中，在设定热致动器控制值时进行磁头与记录介质的异常接触的检测的情况下，在磁盘的相同半径位置试行多次接触检测，并进行接触直到该检测结果的偏差成为一定程度以下为止，由此判断有无检测到异常接触。

不过，根据接触检测的方法，由于其算法的原因，接触检测会发生偏移，虽然反复再现性较好，但不能排除接触检测发生错误这样的状况。另外，在使用次数高的函数(多项式)的情况下，能够将磁头与记录介质的间隙控制得更为恒定，但在磁头与记录介质存在异常接触的情况下，仅通过使用次数高的函数进行拟合而得到的拟合误差，难以准确地判定异常接触检测。

发明内容

本发明的实施方式提供在设定磁盘用的热致动器的控制值的情况下，能够高精度地检测异常接触的磁盘装置用的热致动器控制值的设定方法。

一个实施方式的磁盘装置用的热致动器的控制值的设定方法进行以下的处理。在设定热致动器的控制值的情况下，在磁盘的半径方向上至少五个以上半径位置处进行曲线拟合，所述曲线拟合是使用通过热致动器使磁头与所述磁盘接触时向所述热致动器提供的电力和二次以上的函数的曲线拟合。此外，在各电力与所述二次以上的函数的拟合残差的RMS的Z值超过了预定值的情况下，判定为检测到异常接触。

附图说明

图1是示出实施方式涉及的磁盘装置的概略性结构的一例的图。

图2是示出该实施方式涉及的头的结构的一例的剖视图。

图3的(a)和图3的(b)是用于详细说明该实施方式涉及的上浮量的调整的一例的图。

图4是示出该实施方式涉及的取得接触检测数据的处理的一例的流程图。

图5是示出该实施方式涉及的设定热致动器的控制值时的异常接触判定处理的一例的流程图。

图6是示出该实施方式涉及的4次函数拟合时的残差的一例的图。

图7是示出该实施方式涉及的进行针对多个滑块的4次函数拟合时的残差的RMS分布的图。

图8是示出该实施方式涉及的系数间相关的一例的图。

图9是示出该实施方式涉及的系数间相关的一例的图。

图10是示出该实施方式涉及的系数间相关的一例的图。

图11是示出该实施方式涉及的系数间相关的一例的图。

图12是用于说明该实施方式涉及的包含异常接触半径位置而进行4次函数拟合的情况的一例的图。

图13是用于说明该实施方式涉及的将异常接触半径位置除外来进行4次函数拟合的情况的一例的图。

图14是示出该实施方式涉及的基于评价函数进行异常接触检测的一例的曲线图。

图15是示出该实施方式涉及的针对误差量的异常接触位置检测的一例的曲线图。