[发明专利]激光剥离方法和蓝宝石衬底上发光二极管器件外延结构有效
申请号: | 201811536963.8 | 申请日: | 2018-12-14 |
公开(公告)号: | CN111326409B | 公开(公告)日: | 2023-01-31 |
发明(设计)人: | 张豪峰 | 申请(专利权)人: | 云谷(固安)科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/302 | 分类号: | H01L21/302;H01L33/00;H01L33/02;H01L33/20 |
代理公司: | 北京布瑞知识产权代理有限公司 11505 | 代理人: | 孟潭 |
地址: | 065000 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 剥离 方法 蓝宝石 衬底 发光二极管 器件 外延 结构 | ||
本发明提供了一种激光剥离方法和蓝宝石衬底上发光二极管器件外延结构,解决了现有技术中激光剥离蓝宝石衬底的过程中冲击波导致产品良率低的问题。该激光剥离方法包括在蓝宝石衬底上生长牺牲层,该牺牲层包括氮化系半导体层;在牺牲层中注入离子,该离子为还原性离子,受热与氮化系半导体层中的电子结合生成气体;在牺牲层表面生长发光二极管器件外延结构;采用激光穿过蓝宝石衬底对牺牲层进行照射使其分解,以将蓝宝石衬底和发光二极管器件外延结构分离。
技术领域
本发明涉及发光二极管的制备技术领域,具体涉及一种激光剥离方法和应用该方法进行衬底剥离的蓝宝石衬底上发光二极管器件外延结构。
背景技术
在发光二极管的制备过程中,通常需要利用激光剥离技术将蓝宝石衬底去除,以将发光二极管器件外延结构转移至目标衬底上。由于激光照射时会在剥离界面产生冲击波,而该冲击波会产生GP量级的冲击压强,导致发光二极管器件外延结构出现裂纹,导致产品失效,降低产品良率。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例致力于提供一种激光剥离方法和蓝宝石衬底上发光二极管器件外延结构,以解决现有技术中激光剥离蓝宝石衬底的过程中冲击波导致产品良率低的问题。
本发明一方面提供了一种激光剥离方法,包括:在蓝宝石衬底上生长牺牲层,该牺牲层包括氮化系半导体层;在牺牲层中注入离子,该离子为还原性离子,受热与氮化系半导体层中的电子结合生成气体;在牺牲层表面生长发光二极管器件外延结构;采用激光穿过蓝宝石衬底对牺牲层进行照射使其分解,以将蓝宝石衬底和发光二极管器件外延结构分离。
可选地,在牺牲层中注入离子包括:在牺牲层中均匀注入离子,以使牺牲层中离子浓度相同。
可选地,注入的离子浓度为1×1015~1×1018Ions/cm2。
可选地,在牺牲层中注入离子包括:牺牲层包括交替设置的第一区域和第二区域;采用掩模分别对第一区域和第二区域注入离子,以使第一区域的离子浓度高于第二区域的离子浓度。
可选地,在牺牲层表面生长发光二极管器件外延结构包括:在牺牲层的第二区域表面生长发光二极管器件外延结构。
可选地,在牺牲层中注入离子包括:按照预定深度在牺牲层中注入离子,以形成上下叠置的接触层和离子注入层。
可选地,氮化系半导体层包括氮化镓层或氮化铝层。
可选地,离子包括氢离子、氨气离子、氩离子。
根据本发明的另一方面还提供了一种蓝宝石衬底上发光二极管器件外延结构,包括:蓝宝石衬底;生长在蓝宝石衬底上的发光二极管器件外延结构;以及牺牲层,牺牲层位于蓝宝石衬底和发光二极管器件外延结构之间,包括被注入的离子,该离子为还原性离子,受热与氮化系半导体层中的电子结合生成气体。
可选地,牺牲层中的离子的浓度相同。
可选地,牺牲层包括间隔排布的第一区域和第二区域,第一区域和第二区域的离子浓度不同。
根据本发明提供的激光剥离方法和蓝宝石衬底上发光二极管器件外延结构,通过在牺牲层中注入离子,降低了牺牲层的强度,使得牺牲层在激光照射下更容易发生分解反应,从而可以利用强度更低的激光进行剥离,即降低了激光的强度阈值,进而可以降低激光剥离过程产生的冲击波造成的损伤,提高产品良率。
附图说明
图1所示为本发明一实施例提供的激光剥离方法的流程图。
图2a-图2d为本发明一实施例提供的根据图1所示方法进行激光剥离过程时依次形成的器件结构示意图。
图3所示为本发明另一实施例提供的激光剥离方法的流程图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于云谷(固安)科技有限公司,未经云谷(固安)科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811536963.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造