[发明专利]一种内建自测试电路及存储器有效

专利信息
申请号: 201811564993.X 申请日: 2018-12-20
公开(公告)号: CN111354412B 公开(公告)日: 2022-04-19
发明(设计)人: 陈巍巍;陈岚;尤云霞;秦毅 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 电路 存储器
【权利要求书】:

1.一种内建自测试电路,其特征在于,包括:数字压控振荡器、时钟信号控制模块、地址输入通道、数据输入通道和输出通道;

所述数字压控振荡器,用于生成高频时钟信号;

所述时钟信号控制模块,用于在高速测试时,将所述高频时钟信号输入所述地址输入通道、所述数据输入通道、所述输出通道和被测设备;

所述地址输入通道,用于根据所述时钟信号控制模块输入的时钟信号,将测试地址信号输入所述被测设备;所述地址输入通道,具体包括:第一FIFO寄存器、第二选择器和第三选择器;

所述第一FIFO寄存器的输入端连接所述第二选择器的输出端,所述第一FIFO寄存器的输出端连接所述被测设备和所述第二选择器的第一输入端;

所述第二选择器的第二输入端连接外部输入的地址信号;

所述第三选择器的第一输入端连接所述时钟信号控制模块的时钟信号输出端,所述第三选择器的第二输入端连接外部输入的第一低频时钟信号,所述第三选择器的输出端连接所述第一FIFO寄存器的时钟信号输入端;

所述第二选择器的控制端和所述第三选择器的控制端均连接第二控制信号;

所述数据输入通道,用于根据所述时钟信号控制模块输入的时钟信号,将测试数据信号输入所述被测设备;

所述输出通道,用于接收并输出所述被测设备的输出信号;所述输出信号是所述被测设备利用所述时钟信号控制模块输入的时钟信号和所述测试地址信号生成的,所述输出信号中携带的数据是预先利用所述时钟信号控制模块输入的时钟信号、所述测试地址信号和所述测试数据信号写入所述被测设备的。

2.根据权利要求1所述的内建自测试电路,其特征在于,所述时钟信号控制模块,还用于在低速测试时,将外部的低频时钟信号输入所述地址输入通道、所述数据输入通道、所述输出通道和所述被测设备。

3.根据权利要求2所述的内建自测试电路,其特征在于,所述时钟信号控制模块,具体包括:第一选择器;

所述第一选择器的第一输入端连接所述数字压控振荡器的信号输出引脚,所述第一选择器的第二输入端连接低频时钟信号,所述第一选择器的输出端连接所述地址输入通道、所述数据输入通道、所述输出通道和所述被测设备,所述第一选择器的控制端连接第一控制信号。

4.根据权利要求3所述的内建自测试电路,其特征在于,所述数据输入通道,具体包括:第二FIFO寄存器、第四选择器和第五选择器;

所述第二FIFO寄存器的输入端连接所述第四选择器的输出端,所述第二FIFO寄存器的输出端连接所述被测设备和所述第四选择器的第一输入端;

所述第四选择器的第二输入端连接外部输入的数据信号;

所述第五选择器的第一输入端连接所述时钟信号控制模块的时钟信号输出端,所述第五选择器的第二输入端连接外部输入的第二低频时钟信号,所述第五选择器的输出端连接所述第二FIFO寄存器的时钟信号输入端;

所述第四选择器的控制端和所述第五选择器的控制端均连接第三控制信号。

5.根据权利要求4所述的内建自测试电路,其特征在于,所述输出通道,具体包括:第三FIFO寄存器、第六选择器和第七选择器;

所述第三FIFO寄存器的输入端连接所述被测设备的信号输出引脚,所述第三FIFO寄存器的输出端连接所述第六选择器的第一输入端;

所述第六选择器的第二输入端连接所述被测设备的信号输出引脚,所述第六选择器的输出端连接所述内建自测试电路的输出端,所述第六选择器的控制端连接第四控制信号;

所述第七选择器的第一输入端连接所述时钟信号控制模块的时钟信号输出端,所述第七选择器的第二输入端连接外部输入的第三低频时钟信号,所述第七选择器的输出端连接所述第三FIFO寄存器的时钟信号输入端,所述第七选择器的控制端连接第五控制信号。

6.根据权利要求5所述的内建自测试电路,其特征在于,所述时钟信号控制模块,还包括:验证子模块;所述验证子模块,具体包括:计数器和/或分频器;

所述计数器,用于对所述高频时钟信号进行计数输出计数信号,以对所述高频时钟信号的脉冲数量进行验证;

所述分频器,用于对所述高频时钟信号进行分频输出分频信号,以对所述高频时钟信号的频率进行验证。

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