[发明专利]测试线路、测试方法及显示面板有效

专利信息
申请号: 201811573958.4 申请日: 2018-12-21
公开(公告)号: CN109557738B 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 陈宏辉 申请(专利权)人: 惠科股份有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1333;G09G3/00;H01L27/32;H01L51/56
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 李文渊
地址: 518101 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 线路 方法 显示 面板
【权利要求书】:

1.一种测试线路,用于阵列基板的加电点亮测试,其特征在于,所述测试线路包括:

测试短棒,用于将设置于所述阵列基板的源极侧的数据线进行短接;

至少一组连接头,所述连接头的一端与所述测试短棒电连接,所述连接头的另一端与所述阵列基板的扇出区的数据线电连接;

至少两组视角反差线,两组视角反差线分别定义为第一视角反差线和第二视角反差线,所述第一视角反差线和所述第二视角反差线分别置于所述连接头的两侧,所述第一视角反差线、所述第二视角反差线及所述连接头三者相互平行;其中,每组视角反差线包括N条子视角反差线,N≥1,且N为整数,且至少有两条所述子视角反差线的材料不同;每组视角反差线包括三条子视角反差线,三条子视角反差线定义为第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线,所述第一子视角反差线与所述第三子视角反差线的材料相同,所述第一子视角反差线与所述第二子视角反差线的材料不同;所述子视角反差线的宽度大于所述数据线的宽度;以及

精度标识,所述精度标识设置于所述连接头与所述视角反差线之间;所述精度标识与所述视角反差线的中心处于同一直线上,所述精度标识的开口方向与所述连接头的延伸方向垂直。

2.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识,所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间,所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间,所述第一子精度标识与所述第二子精度标识呈镜面对称。

3.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识,所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间,所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间,所述第一子精度标识与所述第二子精度标识的开口方向相同。

4.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述第一视角反差线的材料与所述第二视角反差线的材料相同。

5.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,每组连接头包括三个子连接单元,每一子连接单元与一数据线对应连接。

6.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线的宽度相同,或所述第一子视角反差线、第二子视角反差线及第三子视角反差线中至少两个宽度不同。

7.根据权利要求1所述的测试线路,其特征在于,所述子视角反差线的宽度大于等于10微米。

8.一种测试方法,其特征在于,使用如权利要求1-7所述的测试线路进行测试,包括:

提供一测试装置,所述测试装置与所述测试短棒连接;

对所述测试装置加电以对所述阵列基板进行加电点亮测试;

完成所述加电点亮测试后,根据所述视角反差线及所述精度标识产生的视角差异对所述测试短棒和所述连接头之间的切割区域进行寻找;

完成寻找后以垂直于所述视角反差线、并经过所述第一视角反差线和第二视角反差线的线段为切割线,同时参照所述精度标识对所述测试短棒和所述连接头之间的电连接进行激光切割。

9.一种显示面板,包括显示区域和非显示区域,其特征在于,所述非显示区域包括如权利要求1-7任一项所述的测试线路。

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