[发明专利]测试线路、测试方法及显示面板

说明书

本申请涉及一种测试线路、显示面板及显示装置。该测试线路包括：测试短棒；至少一组连接头，所述连接头的一端与所述测试短棒电连接，所述连接头的另一端与所述阵列基板的扇出区的数据线电连接；至少两组视角反差线，两组视角反差线分别置于所述连接头的两侧；第一视角反差线、第二视角反差线及连接头三者相互平行；每组视角反差线包括N条子视角反差线，N≥1，且N为整数；子视角反差线的宽度大于所述数据线的宽度；以及精度标识，设置于连接头与视角反差线之间；精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上，精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直。本申请可有效降低激光切割时的切割浪费。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种测试线路、测试方法及显示面板。

背景技术

随着显示技术的发展，显示装置因具有高画质、省电、机身薄等优点而被广泛应用，其中，画质的好坏是影响消费者体验的最主要的因素。而通常一台好的显示装置在出厂之前，还要进行一系列的测试，来保证最终的成品的高质量和高稳定性。

加电点亮测试作为显示装置测试环节中的非常重要一环，其主要用于检测阵列基板上各类电子元器件的电连接关系是否正确。其具体可以是在阵列基板的边缘处设置测试短棒(shorting bar)，同时测试短棒还连接有测试片(test pad)和连接头(lead)，连接头的一端与测试短棒连接，另一端与扇出区(fan-out)的数据线(data line)连接。其主要原理为给测试片加电经过测试短棒的走线传给连接头，连接头通过扇出区的走线，最终传导给显示区的像素以进行点亮测试。一般在测试完成后，需要用激光将测试短棒和连接头之间的连接切断。但是由于监控激光切割的图像传感器的倍率有限，当激光切割多切的时候，就无法准确的检查到，从而导致切割浪费。所以，如何准确的检查激光切割以降低切割浪费是亟需解决的问题。

发明内容

基于此，有必要针对由于图像传感器的倍率有限导致激光切割时的切割浪费等问题，提供一种测试线路、测试方法及显示面板。

一种测试线路，用于阵列基板的加电点亮测试，所述测试线路包括：

测试短棒，用于将设置于所述阵列基板的源极侧的数据线进行短接；

至少一组连接头，所述连接头的一端与所述测试短棒电连接，所述连接头的另一端与所述阵列基板的扇出区的数据线电连接；

至少两组视角反差线，两组视角反差线分别定义为第一视角反差线和第二视角反差线，所述第一视角反差线和所述第二视角反差线分别置于所述连接头的两侧，所述第一视角反差线、所述第二视角反差线及所述连接头三者相互平行；其中，每组视角反差线包括N条子视角反差线，N≥1，且N为整数；所述子视角反差线的宽度大于所述数据线的宽度；以及

精度标识，所述精度标识设置于所述连接头与所述视角反差线之间；所述精度标识与所述视角反差线的中心处于同一直线上，所述精度标识的开口方向与所述连接头的延伸方向垂直。

在其中一个实施例中，所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识，所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间，所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间，所述第一子精度标识与所述第二子精度标识呈镜面对称。

在其中一个实施例中，所述精度标识包括第一子精度标识和第二子精度标识，所述第一子精度标识设置于所述连接头与所述第一视角反差线之间，所述第二子精度标识设置于所述连接头与所述第二视角反差线之间，所述第一子精度标识与所述第二子精度标识的开口方向相同。

在其中一个实施例中，所述第一视角反差线的材料与所述第二视角反差线的材料相同。

在其中一个实施例中，每组连接头包括三个子连接单元，每一子连接单元与一数据线对应连接。