[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待测对象的目标图像；

确定所述目标图像的基面图像，所述基面图像通过对所述目标图像基面拟合得到；

确定所述目标图像的矫正图像，所述矫正图像根据所述基面图像得到；

基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果；

确定所述目标图像的矫正图像之前，还包括：

确定差分图像，所述差分图像为根据所述基面图像的最大像素与所述基面图像各像素的差值得到；

确定所述目标图像的矫正图像，包括：

依据Ir＝Ic+Id(Ic/If)，确定所述目标图像的矫正图像，其中Ir为矫正图像的像素，Ic为目标图像的像素，Id为目标图像所对应差分图像的像素，If为目标图像所对应基面图像的像素；

确定所述目标图像的基面图像，包括：

分别对所述目标图像横向和纵向的像素进行曲线拟合并生成横向基面和纵向基面；

将所述横向基面和所述纵向基面进行融合得到所述目标图像的基面图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取待测对象的目标图像，包括：

获取待测对象的原始图像，所述原始图像为至少两个条形光分别对所述待测对象打光时的图像，所述原始图像的数量为至少两个；

将各所述原始图像融合形成的融合图像确定为目标图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果，包括：

对所述矫正图像进行二值化处理，得到二值化图像；

确定所述二值化图像中白色前景的面积小于面积阈值，则缺陷检测结果为合格，否则缺陷检测结果为不合格。

4.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

图像获取模块，用于获取待测对象的目标图像；

基面图像模块，用于确定所述目标图像的基面图像，所述基面图像通过对所述目标图像基面拟合得到；

矫正图像模块，用于确定所述目标图像的矫正图像，所述矫正图像根据所述基面图像得到；

检测模块，用于基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果；

差分模块，用于确定所述目标图像的矫正图像之前，确定差分图像，差分图像为根据基面图像的最大像素与基面图像各像素的差值得到；

所述矫正图像模块，具体用于依据Ir＝Ic+Id(Ic/If)，确定目标图像的矫正图像，其中Ir为矫正图像的像素，Ic为目标图像的像素，Id为目标图像所对应差分图像的像素，If为目标图像所对应基面图像的像素；

所述基面图像模块包括：

拟合单元，用于分别对所述目标图像横向和纵向的像素进行曲线拟合并生成横向基面和纵向基面；

融合单元，用于将所述横向基面和所述纵向基面进行融合得到所述目标图像的基面图像。

5.一种缺陷检测设备，其特征在于，所述设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-3中任一所述的缺陷检测方法。

6.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一所述的缺陷检测方法。