[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取待测对象的目标图像；确定目标图像的基面图像，基面图像通过对目标图像基面拟合得到；确定目标图像的矫正图像，矫正图像根据基面图像得到；基于矫正图像得到待测对象表面的缺陷检测结果。本发明实施例解决了现有技术中因光照不均匀引起的成像问题，有效提高了缺陷检测的准确率。

技术领域

本发明实施例涉及机器视觉图像处理技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

表面缺陷的检测是产品超精密加工技术可持续发展的重要环节，在表面面形及粗糙度得到良好控制的时候，表面缺陷越来越成为制约产品超精密加工工艺和水平的主要因素。

目前，工业领域对表面缺陷检测主要采用人工检测方法和视觉检测方式。人工检测方式是让工人通过人眼加先验知识进行检测，该种方式容易造成工人的视觉疲劳从而增加误检率，且随着社会发展，人工成本也在逐渐提高。而视觉检测方式是根据产品的特性等因素，采用不同的成像系统机构设计及视觉检测算法进行检测。

在实现本发明过程中，发明人发现视觉检测方式中成像系统因光源的不同存在下述缺陷：穹顶光成像均匀，但光源体积与相机检测视场成正比，但检测视场较大时，体积太大不易安装，不适合大面积的缺陷检测系统；面成像较均匀，但当检测表面光滑反光时，相机成像就会出现光源的投影，不利于检测；条形光体积较小易于安装，但是成像不均匀，不利于视觉检测；同轴光适用于表面放光的物质，切成像效果很好，但是体积与检测视场成正比，对于，大范围检测，体积较大，不易安装检测。视觉检测方式中视觉检测算法存在下述缺陷：视觉检测算法主要分为智能学习算法和传统算法，智能学习算法例如卷积神经网络等等，实际工业使用中，该类算法实际检测效果并不理想，并且需要大量的样本数据进行训练；传统算法人为对检测问题进行数学建模，然后用程序设计出来，检测具有针对性，但是设计建模较难，检测效果完全跟设计的数学模型是否符合实际情况有关。因此，在视觉检测方式中成像系统和视觉检测算法的设计会很大程度地影响缺陷检测效果，现有技术中因上述缺陷不能实现理想的检测效果。

发明内容

本发明实施例提供了一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质，可以提高缺陷检测的准确率。

第一方面，本发明实施例提供了一种缺陷检测方法，包括：

获取待测对象的目标图像；

确定所述目标图像的基面图像，所述基面图像通过对所述目标图像基面拟合得到；

确定所述目标图像的矫正图像，所述矫正图像根据所述基面图像得到；

基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果。

第二方面，本发明实施例还提供了一种缺陷检测装置，该装置包括：

图像获取模块，用于获取待测对象的目标图像；

基面图像模块，用于确定所述目标图像的基面图像，所述基面图像通过对所述目标图像基面拟合得到；

矫正图像模块，用于确定所述目标图像的矫正图像，所述矫正图像根据所述基面图像得到；

检测模块，用于基于所述矫正图像得到所述待测对象表面的缺陷检测结果。

第三方面，本发明实施例还提供了一种设备，所述设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如上所述的缺陷检测方法。

第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上所述的缺陷检测方法。