[发明专利]包括分布电流的硅通孔的半导体装置在审
申请号: | 201811580255.4 | 申请日: | 2018-12-24 |
公开(公告)号: | CN110098163A | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 卢寿政;吴致成;孙教民;金勇基;文钟淏;禹昇汉;尹载允 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L21/768;H01L23/522;H01L23/528 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 尹淑梅;韩明花 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅通孔 半导体裸片 半导体装置 分布电流 电连接 基底 电源线 堆叠 电路 穿过 | ||
本发明提供了一种包括分布电流的硅通孔的半导体装置,所述半导体装置包括:第一半导体裸片至第M半导体裸片,堆叠在第一方向上。第一半导体裸片至第M半导体裸片中的每个半导体裸片包括:基底;第一硅通孔至第K硅通孔,在第一方向上穿过基底;以及第一电路,通过电连接到第一硅通孔的电源线接收电力。第N半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔中的每个硅通孔电连接到第N+1半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔中的在平面图中与其间隔开的硅通孔。
于2018年1月31日在韩国知识产权局提交的第10-2018-0012102号且发明名称为“包括分布电流的硅通孔的半导体装置(Semiconductor Device Including ThroughSilicon Vias Distributing Current)”的韩国专利申请通过引用全部包含于此。
技术领域
实施例涉及一种半导体装置,更具体的,涉及一种包括分布电流的硅通孔的半导体装置。
背景技术
许多半导体裸片可以堆叠在半导体装置中。通常,引线键合可用来使堆叠的半导体裸片电连接。硅通孔可以用于使堆叠的半导体裸片连接,以实现高性能和高集成度的半导体装置。
半导体装置可以是例如存储器装置。为了增加存储器装置的容量,会增大存储器装置中堆叠的存储器裸片的数量。随着存储器裸片的数量增大,向存储器裸片提供电源电压的硅通孔会增多。
发明内容
根据示例性实施例,半导体装置包括在第一方向上堆叠的第一半导体裸片至第M半导体裸片。第一半导体裸片至第M半导体裸片中的每个可以包括:基底;第一硅通孔至第K硅通孔,在第一方向上穿过基底;以及第一电路,通过电连接到第一硅通孔的电源线接收电力。“M”和“K”中的每个可以独立地为2或更大的整数。第一半导体裸片至第M半导体裸片中的第N+1半导体裸片可以堆叠在第一半导体裸片至第M半导体裸片中的第N半导体裸片上。“N”可以为不小于1且不大于M-1的整数。第N半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔中的每个硅通孔可以电连接到第N+1半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔中的在平面图中与其间隔开的硅通孔。第一半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔可以连接到供应电力的电源。
根据示例性实施例,半导体装置可以包括在第一方向上堆叠的第一半导体裸片至第M半导体裸片。第一半导体裸片至第M半导体裸片中的每个半导体裸片可以包括:基底;第一硅通孔至第K硅通孔,在第一方向上穿过基底;第一开关至第S开关,选择连接到第一硅通孔至第K硅通孔的电源线;以及第一电路,通过第一开关至第S开关中的一个开关接收电力。“M”、“K”和“S”中的每个可以独立地为2或更大的整数。第一半导体裸片至第M半导体裸片中的第N+1半导体裸片可以堆叠在第一半导体裸片至第M半导体裸片中的第N半导体裸片上。“N”可以为不小于1且不大于M-1的整数。第N半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔中的每个硅通孔可以电连接到第N+1半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔中的在平面图中与其间隔开的硅通孔。第一半导体裸片的第一硅通孔至第K硅通孔可以连接到供应电力的电源。
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