[发明专利]一种阈值电压调试方法、装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 201811582329.8 申请日: 2018-12-24
公开(公告)号: CN109671466B 公开(公告)日: 2021-01-01
发明(设计)人: 郑文霞 申请(专利权)人: 湖南国科微电子股份有限公司
主分类号: G11C29/50 分类号: G11C29/50;G11C29/42
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 范彦扬
地址: 410000 湖南省长沙市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 阈值 电压 调试 方法 装置 电子设备
【权利要求书】:

1.一种阈值电压调试方法,其特征在于,所述方法包括:

获取步骤:依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据;

校验步骤:对所述存储数据进行校验纠错;

当所述校验纠错失败且所述校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时,依据第一预设值调整所述阈值电压以得到第一修正阈值电压,并重新执行所述获取步骤和所述校验步骤直至所述存储数据校验纠错成功;其中,所述第一修正阈值电压小于所述阈值电压;

当依据所述第一修正阈值电压获取的存储数据校验纠错失败时,依据第二预设值调整所述阈值电压以得到第二修正阈值电压,其中,所述第二修正阈值电压大于所述阈值电压;

当依据所述第二修正阈值电压获取的存储数据校验纠错失败时,依据所述第一修正阈值电压获取的存储数据和所述原始电压数据获取的存储数据得到第一比特翻转数;依据所述第二修正阈值电压获取的存储数据和所述原始电压数据获取的存储数据得到第二比特翻转数;依据所述第一比特翻转数以及所述第二比特翻转数获取第三修正阈值电压;

当所述校验纠错失败且所述校验纠错的累计失败次数大于所述预设阈值时,则判断所述存储单元失效,结束阈值电压地调试。

2.如权利要求1所述的阈值电压调试方法,其特征在于,所述依据所述第一比特翻转数以及所述第二比特翻转数获取第三修正阈值电压的步骤包括:

当所述第一比特翻转数小于所述第二比特翻转数时,获取所述阈值电压以及所述第一修正阈值电压的中间值,得到所述第三修正阈值电压;

当所述第一比特翻转数大于所述第二比特翻转数时,获取所述阈值电压以及所述第二修正阈值电压的中间值,得到所述第三修正阈值电压。

3.如权利要求1-2任意一项所述的阈值电压调试方法,其特征在于,所述方法还包括:当所述校验纠错成功时,依据所述阈值电压或经过调整的阈值电压获取正确阈值电压。

4.一种阈值电压调试装置,其特征在于,包括:

获取模块,用于执行获取步骤:依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据;

校验模块,用于执行校验步骤:对所述存储数据进行校验纠错;

阈值电压调整模块,用于当所述校验纠错失败且所述校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时,依据第一预设值调整所述阈值电压以得到第一修正阈值电压,并控制所述获取模块重新执行所述获取步骤,以及控制所述校验模块重新执行所述校验步骤,直至所述存储数据校验纠错成功;其中,所述第一修正阈值电压小于所述阈值电压;

所述阈值电压调整模块,还用于当依据所述第一修正阈值电压获取的存储数据校验纠错失败时,依据第二预设值调整所述阈值电压以得到第二修正阈值电压,其中,所述第二修正阈值电压大于所述阈值电压;

所述阈值电压调整模块,还用于当依据所述第二修正阈值电压获取的存储数据校验纠错失败时,依据所述第一修正阈值电压获取的存储数据和所述原始电压数据获取的存储数据得到第一比特翻转数;依据所述第二修正阈值电压获取的存储数据和所述原始电压数据获取的存储数据得到第二比特翻转数;依据所述第一比特翻转数以及所述第二比特翻转数获取第三修正阈值电压;

所述阈值电压调整模块,还用于当所述校验纠错失败且所述校验纠错的累计失败次数大于所述预设阈值时,则判断所述存储单元失效,结束阈值电压地调试。

5.一种电子设备,其特征在于,包括:控制芯片、存储器、通信端口;

实现如权利要求1-3任一项所述的阈值电压调试方法。

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