[发明专利]一种阈值电压调试方法、装置及电子设备

说明书

本发明实施例提出一种阈值电压调试方法、装置及电子设备，涉及存储数据纠错领域。该方法包括：获取步骤以及校验步骤，获取步骤包括依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据。校验步骤包括对存储数据进行校验纠错。当校验纠错失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，调整阈值电压并重新执行获取步骤和校验步骤直至存储数据校验纠错成功。在纠错编码对存储数据进行差错检测失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，由于通过调整阈值电压直至校验纠错成功，解决仅采用纠错编码进行差错检测会导致纠错性能变差甚至不能纠错的问题。

技术领域

本发明涉及存储数据纠错领域，具体而言，涉及一种阈值电压调试方法、装置及电子设备。

背景技术

基于闪存的固态硬盘具有容量较大，改写速度快等优点，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案。固态硬盘在读取存储单元中的数据时，通常依据阈值电压读取存储单元中的电压数据获得存储数据，并采用纠错编码对存储数据进行差错检测以纠正错误。

但随着存储单元的擦除次数增加，依旧仅采用纠错编码进行差错检测会导致纠错性能变差甚至不能纠错的问题。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种阈值电压调试方法、装置及电子设备，在纠错编码对存储数据进行差错检测失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，通过调整阈值电压直至校验纠错成功，解决仅采用纠错编码进行差错检测会导致纠错性能变差甚至不能纠错的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提出一种阈值电压调试方法，方法包括：获取步骤以及校验步骤，获取步骤包括依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据。校验步骤包括对存储数据进行校验纠错。当校验纠错失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，调整阈值电压并重新执行获取步骤和校验步骤直至存储数据校验纠错成功；当校验纠错失败且校验纠错的累计失败次数大于预设阈值时，则判断存储单元失效，结束阈值电压地调试。

第二方面，本发明实施例还提出一种阈值电压调试装置，包括获取模块，用于执行获取步骤：依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据；校验模块，用于执行校验步骤：对存储数据进行校验纠错；阈值电压调整模块，用于当校验纠错失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，调整阈值电压，并控制获取模块重新执行获取步骤，以及控制校验模块重新执行校验步骤，直至存储数据校验纠错成功；阈值电压调整模块，还用于当校验纠错失败且校验纠错的累计失败次数大于预设阈值时，则判断存储单元失效，结束阈值电压地调试。

第三方面，本发明实施例还提出一种电子设备，包括控制芯片、存储器、通信端口，实现上述阈值电压调试方法。

本发明实施例所提供的一种阈值电压调试方法、装置及电子设备，该方法包括：获取步骤以及校验步骤，获取步骤包括依据阈值电压获取存储于存储单元的原始电压数据对应的存储数据。校验步骤包括对存储数据进行校验纠错。当校验纠错失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，调整阈值电压并重新执行获取步骤和校验步骤直至存储数据校验纠错成功。该电子设备包括该装置，该装置可以通过执行上述方法完成阈值电压的调试。在纠错编码对存储数据进行差错检测失败且校验纠错的累计失败次数不大于预设阈值时，由于通过调整阈值电压直至校验纠错成功，或者判断存储单元失效，结束阈值电压地调试，解决仅采用纠错编码进行差错检测会导致纠错性能变差甚至不能纠错的问题。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明实施例了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明