[发明专利]包括时钟发生电路的半导体器件

说明书

一种时钟发生电路包括：频率检测器，其适用于产生内部时钟，并且产生表示内部时钟在输入时钟的激活时段期间的跳变次数的计数信号；控制信号发生器，其适用于基于目标信号和计数信号而产生多个周期控制信号，目标信号表示输出时钟的目标频率；以及周期控制器，其适用于基于周期控制信号而产生输出时钟。

相关申请的交叉引用

本申请要求2018年2月26日提交的申请号为10-2018-0022738的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本发明的各种实施例涉及半导体技术，并且更具体地涉及半导体器件的时钟发生电路。

背景技术

随着半导体器件的操作速度继续增长，用于测试半导体器件的测试仪的操作速度可能会跟不上那样的增长。例如，尽管半导体器件可以以接近大约400兆赫(MHz)的频率运行，但测试仪可能不会产生超过大约200MHz的信号。当测试仪在执行测试的时候以大约200MHz运行时，不仅执行测试需要花很长时间，而且执行适用于高速运行的半导体器件的测试是不可能的。

因此，为了使用以低操作速度运行的测试仪来测试高速半导体器件，半导体器件可以包括时钟发生电路，诸如倍频电路，其可以产生具有比从测试仪施加的外部时钟的频率高的频率的时钟。换言之，通过使用倍频电路，高速操作的半导体器件可以用低速测试设备来被测试。

倍频电路可以使用用于小抖动产生以及在工艺、电压和温度(PVT)变化方面稳定的操作的锁相环(PLL)电路或延迟锁定环(DLL)来实现。使用DLL或PLL的倍频电路可能能够补偿占空比。然而，倍频电路需要宽大的面积以用于设置DLL或PLL电路，并且还需要长锁定时间以及高度复杂的实施方式。

因此，需要具有短锁定时间和简单结构的时钟发生电路。

发明内容

本发明的实施例涉及从外部设备接收参考时钟并产生期望的输出时钟的内部时钟发生电路。

本发明的实施例涉及用作倍频电路和分频电路的内部时钟发生电路。

根据本发明的一个实施例，一种时钟发生电路包括：频率检测器，其适用于产生内部时钟，并且产生表示所述内部时钟在输入时钟的激活时段期间的跳变次数的计数信号；控制信号发生器，其适用于基于目标信号和所述计数信号而产生多个周期控制信号，所述目标信号表示输出时钟的目标频率；以及周期控制器，其适用于基于所述周期控制信号而产生所述输出时钟。

根据本发明的另一个实施例，一种半导体系统包括：测试装置，其适用于为半导体器件提供参考时钟；以及半导体器件，其适用于接收所述参考时钟并且产生用于所述半导体器件的操作的输出时钟，其中，所述半导体器件包括：频率检测器，其适用于产生内部时钟，并且产生表示所述内部时钟在输入时钟的激活时段期间的跳变次数的计数信号；控制信号发生器，其适用于基于目标信号和所述计数信号而产生多个周期控制信号，所述目标信号表示输出时钟的目标频率；以及周期控制器，其适用于基于所述周期控制信号而产生所述输出时钟。

根据本发明的又一个实施例，一种用于产生时钟的方法包括：产生内部时钟；通过对所述内部时钟在输入时钟的激活时段期间的跳变次数进行计数来产生计数信号；在所述输入时钟的所述激活时段结束时基于目标信号和所述计数信号而产生多个周期控制信号，所述目标信号表示输出时钟的目标频率；以及基于所述周期控制信号而产生输出时钟。

根据本发明的一个实施例，一种时钟发生电路包括：频率检测器，其包括适用于产生内部时钟的多个第一单元延迟器，所述频率检测器适用于对所述内部时钟在输入时钟的激活时段期间的跳变进行计数并基于所述计数而产生计数信号；控制信号发生器，其适用于基于目标信号和所述计数信号而产生多个周期控制信号，所述目标信号表示输出时钟的目标频率；以及周期控制器，其包括适用于产生所述输出时钟的多个第二单元延迟器，所述周期控制器适用于控制基于所述周期控制信号而被选中的所述第二单元延迟器的数量。

附图说明