[发明专利]激光测距装置

说明书

一种激光测距装置，包括激光发射装置、第一显微镜头、第二显微镜头、第一折转棱镜、第二折转棱镜、电机、第一能量探测器及第二能量探测器；激光发射装置包括第一激光器、第二激光器及分光棱镜组合；第一激光器、第二激光器与分光棱镜组合相对且用于分别向分光棱镜组合投射光线；第一折转棱镜将第一激光器射至分光棱镜组合光线转投射至第一显微镜头，再由第一显微镜头投射至第一检测面；第二折转棱镜将第二激光器射至分光棱镜组合光线转投射至第二显微镜头，再由第二显微镜头投射至第二检测面；电机与第一显微镜头连接。本发明调整精度高，光路转折结构设计紧凑。

技术领域

本发明涉及激光测距技术领域，特别是涉及一种激光测距装置。

背景技术

近年来，随着我国高精尖产业的不断发展，对精密测量仪器需求逐步增加。激光测距仪因其具有非接触式测量，对待测目标没有损坏等优势，广泛应用于测量行业，但目前国内外高精度激光测距仪通常采用反射式激光测距方法，通过一束激光照射被测物体，利用光学系统从激光光束方向一侧采集光斑的能量，投影至CCD图像传感器靶面，计算光斑位置换算得到距离值，其测量精度分布在0.001mm～0.1mm之间，难以满足高精度测量的需求，高精度激光测量必将是未来的发展方向之一。有鉴于此，如何设计一种新的高精度激光测距装置，以消除现有技术中的缺陷和不足，是业内相关技术人员亟待解决的一项课题。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种具有更高精度的激光测距装置。

一种激光测距装置，其特征在于，包括激光发射装置、第一显微镜头、第二显微镜头、第一折转棱镜、第二折转棱镜、电机、第一能量探测器及第二能量探测器；所述激光发射装置包括第一激光器、第二激光器及分光棱镜组合；所述第一激光器、第二激光器与分光棱镜组合相对用于分别向分光棱镜组合投射光线；所述第一折转棱镜位于分光棱镜组合与第一显微镜头的光路上用于将第一激光器射至分光棱镜组合光线转投射至所述第一显微镜头，再由所述第一显微镜头投射至第一检测面，第一检测面反射的光线依次经第一显微镜头、第一转折棱镜及分光棱镜组合后投射至第一能量探测器；所述第二折转棱镜位于分光棱镜组合与第二显微镜头的光路上用于将第二激光器射至分光棱镜组合光线转投射至所述第二显微镜头，再由所述第二显微镜头投射至第二检测面，第二检测面反射的光线依次经第二显微镜头、第二转折棱镜及分光棱镜组合后投射至第二能量探测器；所述电机与第一显微镜头连接用于带动第一显微镜头移动。

本发明的有益效果在于，可以在通过调整激光测距装置及第一显微镜头的位置完成对第一、第二检测面的聚焦瞄准工作后，根据由电机调整第一显微镜头距离，通过控制第一能量探测器和第二能量探测器的分辨率，进一步计算得到被测距离大小，可使测量精度达0.1um，满足高精度装调及测量需求，调整精度高，光路转折结构设计紧凑，缩小了激光测距装置的体积。

附图说明

图1为本发明提供的激光测距装置的结构图；

图2为图1所示的激光测距装置分光原理图；

图3为图1所示激光测距装置的分光棱镜组合的结构。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人士在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。

下面结合附图1至附图3，详细说明本发明提供的光测距装置的技术方案。