[发明专利]一种TFT模型参数的提取方法有效

专利信息
申请号: 201811600148.3 申请日: 2018-12-26
公开(公告)号: CN109657384B 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 林世佳;樊晓斌;朱能勇;黄琬琰;朱艳 申请(专利权)人: 南京华大九天科技有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 王金双
地址: 211800 江苏省南京市中国(江苏)自由*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 tft 模型 参数 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种TFT模型参数的提取方法,其特征在于,包括:

1)接收并处理测量数据,生成提取电路;

2)选择TFT模型种类,将输入的电流数据划分为多个电流区域,并得到各电流区域的电流区域模型方程;

3)预定义所述测量数据和所述TFT模型的误差计算方案;

4)基于所述电流区域模型方程和电流数据分布计算模型参数的初始值;

5)进行模型的参数优化,计算误差数据和模型结果之间的关系;

6)进行错误检查,

步骤2)所述的输入的电流数据划分为多个电流区域,是根据输入的电流数据和器件电流特性,将输入电流数据划分为多个电流区域,电流区域包括:泄漏电流、亚阈区。

2.根据权利要求1所述的TFT模型参数的提取方法,其特征在于,步骤1)所述的生成提取电路,是根据TFT的器件尺寸参数、工艺参数、介电常数及数据量测温度,自动生成提取工具可以读取并操作的提取电路。

3.根据权利要求1所述的TFT模型参数的提取方法,其特征在于,步骤3)所述误差计算方案,包括,线性均方根计算,线性平均误差,线性最大误差,对数均方根计算,对数平均误差,对数最大误差。

4.根据权利要求1所述的TFT模型参数的提取方法,其特征在于,所述步骤3)进一步包括:根据各电流区域的电流分布和当前趋势,计算各区域电流所涉及的初始模型参数。

5.根据权利要求1所述的TFT模型参数的提取方法,其特征在于,所述步骤6)进一步包括:

重新计算电流及电容并与原始数据进行误差计算;

并对模型参数优化前后的误差进行比较。

6.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机指令,其特征在于,所述计算机指令运行时执行权利要求1至5任一项所述的TFT模型参数的提取方法的步骤。

7.一种终端设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器上储存有在所述处理器上运行的计算机指令,所述处理器运行所述计算机指令时执行权利要求1至5任一项所述的TFT模型参数的提取方法的步骤。

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