[发明专利]一种存储器校准系统及方法、可读存储介质

权利要求书

1.一种存储器校准方法，其特征在于，包括：

从第一存储器读取第一数据，所述第一数据包括第二存储器用于校准的预存参数；

对所述第一数据进行第一次校验；

若所述第一数据通过第一校验，则对所述第一数据进行第二校验；

计算得到所述第二存储器的部分校准参数，将所述部分校准参数与所述第一数据中对应的预存参数进行比较；

若所述部分校准参数与对应的所述预存参数的误差处于预设范围内，则判定所述第一数据通过第二校验；

若所述第一数据通过第二校验，则使用所述第一数据配置所述第二存储器的控制器；

对所述第二存储器进行测试，若测试通过，则完成对所述第二存储器的校准；

其中，所述第一存储器为非易失性存储器，所述第二存储器为DRAM。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一数据进行第一校验的步骤包括：

判断所述第一数据中的魔法数与预设魔法数是否相等，并根据所述第一数据计算循环冗余校验码，判断所述循环冗余校验码与预存循环冗余校验码是否相等；

若所述魔法数与预设魔法数相等，且所述循环冗余校验码与所述预存循环冗余校验码相等，则判定所述第一数据通过第一校验。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，进一步包括：

若所述魔法数与所述预设魔法数不相等或/和所述循环冗余校验码与所述预存循环冗余校验码不相等，则对所述第二存储器的全部校准参数进行计算，获得第二数据；

使用所述第二数据配置所述第二存储器的控制器并将所述第二数据作为所述预存参数保存至所述第一存储器中。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

若所述部分校准参数与对应的所述预存参数的误差未处于预设范围内，则对所述第二存储器的全部校准参数进行计算，获得第二数据；

使用所述第二数据配置所述第二存储器的控制器并将所述第二数据作为所述预存参数保存至所述第一存储器中。

5.根据权利要求1或4所述的方法，其特征在于，所述预设范围为0～10％。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括：

若未通过所述测试，则对所述第二存储器的全部校准参数进行计算，获得第二数据；

使用所述第二数据配置所述第二存储器的控制器并将所述第二数据作为所述预存参数保存至所述第一存储器中。

7.一种存储器校准系统，其特征在于，所述系统包括第一存储器、第二存储器以及处理器，所述第一存储器内存储有第一数据；处理器用于从第一存储器读取第一数据，所述第一数据包括第二存储器的预存参数；还用于对所述第一数据进行第一校验和第二校验，并判断所述第一数据是否有效；若所述第一数据有效，则使用所述第一数据配置所述第二存储器的控制器；还用于对所述第二存储器进行测试，若测试通过，则完成对所述第二存储器的校准；

所述处理器还用于计算以得到所述第二存储器的部分校准参数，并将所述部分校准参数与所述第一数据中对应的预存参数进行比较，以判断所述部分校准参数与所述第一数据中对应的预存参数的误差是否处于预设范围内；

其中，所述第一存储器为非易失性存储器，所述第二存储器为DRAM。

8.一种可读存储介质，存储有指令，其特征在于，所述指令被执行时实现权利要求1-6任一项所述方法中的步骤。