[发明专利]基于三维扫描系统的物体检测方法、装置、介质及设备

说明书

本申请公开了一种基于三维扫描系统的物体检测方法，包括：控制目标三维扫描系统的直线电机以匀速通过第一扫描区域，并利用目标三维扫描系统的光谱共焦位移传感器对第一扫描区域进行扫描，得到第一扫描数据；其中，第一扫描区域为目标物体的所在区域；利用第一扫描数据对目标物体进行检测。在本申请中，因为目标三维扫描系统的直线电机是以匀速通过目标物体的所在区域，由此避免了直线电机在通过目标物体所在区域边缘时的加速和/或减速过程，从而使得光谱位移传感器可以扫描得到数据质量更高的第一扫描数据，并由此可以相对提高检测结果的精度。相应的，本申请公开的一种基于三维扫描系统的物体检测装置、介质及设备，同样具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及数据检测技术领域，特别涉及一种基于三维扫描系统的物体检测方法、装置、介质及设备。

背景技术

三维扫描系统因其能够侦测现实世界中物体外观的形状数据，而被广泛应用在机器人导引、地貌测量、医学信息、生物信息以及瑕疵检测等技术领域当中。如图1所示，三维扫描系统主要是由上位机、二维直线运动平台和光谱共焦位移传感器组成。如图2所示，如果需要利用三维扫描系统对目标物体进行检测时，光谱共焦位移传感器会发出光束，并将光束聚焦在特定距离处，光谱共焦位移传感器通过接收目标物体表面反射的光束，并将这些光束传输到三维扫描系统的控制器当中，然后，由控制器对这些光束进行光谱分析，并以此来对目标物体进行检测。

如图3所示，在现有技术当中，光谱共焦位移传感器对目标扫描区域是采用双向扫描的方式，也即，当光谱共焦位移传感器对目标物体所在的目标扫描区域进行扫描时，直线电机先从目标扫描区域正方向的采样起点向采样终点进行运动，此时，光谱共焦位移传感器从正向对目标扫描区域扫描一行；之后，直线电机运动一个分辨率的距离，直线电机再从目标扫描区域反方向的采样起点向采样终点进行运动，此时，光谱共焦位移传感器从反向对目标扫描区域扫描一行，以此类推，直至光谱共焦位移传感器完成对目标扫描区域的扫描。

在此过程中，直线电机正反向运动的起点和终点是在目标扫描区域的边缘两侧，也即，目标扫描区域的边缘是光谱共焦位移传感器采样的起点和终点。但是，光谱共焦位移传感器在对目标扫描区域进行扫描时，直线电机通常会在目标扫描区域的边缘有一个加速和减速的过程，这样一来，光谱位移传感器扫描得到的扫描图像的两侧就会有较为严重的变形，从而使得光谱位移传感器从目标扫描区域扫描到得到的数据质量较差，并由此导致目标物体的检测结果精度较低。由此可见，如何提供一种更好的基于三维扫描系统的物体检测方法，来提高目标物体检测结果的精度，是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种基于三维扫描系统的物体检测方法、装置、介质及设备，以提高目标物体检测结果的精度。其具体方案如下：

一种基于三维扫描系统的物体检测方法，包括：

控制目标三维扫描系统的直线电机以匀速通过第一扫描区域，并利用所述目标三维扫描系统的光谱共焦位移传感器对所述第一扫描区域进行扫描，得到第一扫描数据；其中，所述第一扫描区域为目标物体的所在区域；

利用所述第一扫描数据对所述目标物体进行检测。

优选的，所述控制目标三维扫描系统的直线电机以匀速通过第一扫描区域，并利用所述目标三维扫描系统的光谱共焦位移传感器对所述第一扫描区域进行扫描，得到第一扫描数据的过程之前，还包括：

预先将所述目标三维扫描系统的光谱共焦位移传感器的触发方式设置为电平触发；

相应的，所述利用所述目标三维扫描系统的光谱共焦位移传感器对所述第一扫描区域进行扫描，得到第一扫描数据的过程，包括：

利用所述电平触发控制所述目标三维扫描系统的光谱共焦位移传感器对所述第一扫描区域进行扫描，得到所述第一扫描数据。

优选的，所述电平触发为高电平有效或低电平有效。