[发明专利]一种内存测试拉偏内存供电电压的电路在审
| 申请号： | 201811606250.4 | 申请日： | 2018-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109712666A | 公开（公告）日： | 2019-05-03 |
| 发明（设计）人： | 高文艳 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56;G11C5/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 内存供电电压 电源集成电路 反馈电压 内存测试 地端 电阻 引脚 内存 电路 电感 并联可变电阻 电阻两端 可变电阻 输出引脚 电容 测试 输出 | ||
【权利要求书】：
1.一种内存测试拉偏内存供电电压的电路，其特征在于，包含：
电源集成电路、电源集成电路输出引脚通过电感输出为内存供电电压端，
电源集成电路反馈电压引脚通过第一电阻与内存供电电压端连接，电源集成电路反馈电压引脚通过第二电阻与地端连接；地端通过电容与内存供电电压端连接，第二电阻两端并联可变电阻。
2.如权利要求1所述的内存测试拉偏内存供电电压的电路，其特征在于，所述可变电阻的最大阻值比第二电阻的阻值大10倍以上。
3.如权利要求1所述的内存测试拉偏内存供电电压的电路，其特征在于，所述电容两端并联有电压显示装置。
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