[发明专利]一种参考电压确定方法、装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 201811613757.2 申请日: 2018-12-27
公开(公告)号: CN111383684A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 何飞;龙衡;田春雨 申请(专利权)人: 深圳市中兴微电子技术有限公司
主分类号: G11C11/4074 分类号: G11C11/4074
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;张天舒
地址: 518055 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 参考 电压 确定 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种参考电压确定方法,其特征在于,所述方法包括:

以递增的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取电子设备的最小参考电压;

以递减的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取所述电子设备的最大参考电压;

根据所述电子设备的最小参考电压和所述电子设备的最大参考电压确定所述电子设备的参考电压。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述以递增的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取所述电子设备的最小参考电压,包括:

遍历所述参考电压值集合中的参考电压,对所述电子设备进行读写校验;

将读写校验成功的第一个参考电压确定为所述电子设备的最小参考电压;

其中,所述参考电压值集合按参考电压值大小的升序进行排列。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述以递增的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取所述电子设备的最小参考电压,包括:

基于所述参考电压值集合中的第一个参考电压,对所述电子设备进行读写校验;

读写校验成功时,确定第一个参考电压为所述电子设备的最小参考电压;

读写校验失败时,基于所述参考电压值集合中的第二个参考电压,对所述电子设备进行读写校验,直至读写校验成功;将读写校验成功对应的参考电压确定为所述电子设备的最小参考电压。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述以递减的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取所述电子设备的最大参考电压,包括:

遍历所述参考电压值集合中的参考电压,对所述电子设备进行读写校验;

将读写校验成功的第一个参考电压确定为所述电子设备的最大参考电压;

其中,所述参考电压值集合按参考电压值大小的降序进行排列。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述以递减的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取所述电子设备的最大参考电压,包括:

基于所述参考电压值集合中的第一个参考电压,对所述电子设备进行读写校验;

读写校验成功时,确定第一个参考电压为所述电子设备的最大参考电压;

读写校验失败时,基于所述参考电压值集合中的第二个参考电压,对所述电子设备进行读写校验,直至读写校验成功;将读写校验成功对应的参考电压确定为所述电子设备的最大参考电压。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述电子设备的最小参考电压和所述电子设备的最大参考电压确定所述电子设备的参考电压之后,所述方法还包括:

基于所述电子设备的参考电压对所述电子设备进行颗粒参考电压训练,以确定所述电子设备的颗粒参考电压。

7.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述电子设备的最小参考电压和所述电子设备的最大参考电压确定所述电子设备的参考电压,包括:

将所述电子设备的最小参考电压和所述电子设备的最大参考电压的平均值确定为所述电子设备的参考电压。

8.一种参考电压确定装置,其特征在于,所述装置包括:

获取模块,用于以递增的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取所述电子设备的最小参考电压;

以递减的方式遍历参考电压值集合中的参考电压,获取所述电子设备的最大参考电压;

确定模块,用于根据所述电子设备的最小参考电压和所述电子设备的最大参考电压确定所述电子设备的参考电压。

9.一种参考电压确定装置,其特征在于,包括处理器和用于存储能够在处理器上运行的计算机程序的存储器;其中,所述处理器用于运行所述计算机程序时,执行权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

10.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7任一项所述方法的步骤。

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