[发明专利]一种氮化铝单晶晶须的制备方法在审
申请号: | 201811615921.3 | 申请日: | 2018-12-27 |
公开(公告)号: | CN109505010A | 公开(公告)日: | 2019-03-22 |
发明(设计)人: | 陈贵锋;崔起源;张辉;解新建;谢路肖 | 申请(专利权)人: | 河北工业大学 |
主分类号: | C30B25/02 | 分类号: | C30B25/02;C30B29/38;C30B29/62 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 万尾甜;韩介梅 |
地址: | 300401 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 单晶晶须 氮化铝 制备 生长区 衬底 生长 氢化物气相外延 氮气 白色沉积物 氮化铝晶须 氩气 衬底表面 抽真空 反应室 高纯铝 控制源 无危险 氮源 放入 刚玉 源区 载气 取出 | ||
本发明公开了一种氮化铝单晶晶须的制备方法,步骤如下:将高纯铝颗粒加入到刚玉舟中,与衬底一同放入氢化物气相外延设备的反应室,分别置于源区和生长区;抽真空后,控制源区温度为1400℃,生长区温度为1550℃,氩气为载气,氮气为氮源,在衬底上进行氮化铝晶须的制备,生长时间在40~90min;结束生长后,降至室温,取出样品,衬底表面有一层白色沉积物即为氮化铝单晶晶须。此方法生长氮化铝单晶晶须结晶质量高,且该方法具有操作简单,成本低,效率高,无危险气体等优点。
技术领域
本发明涉及氮化铝的制备技术领域,尤其涉及一种氮化铝单晶晶须的制备方法。
背景技术
氮化铝具有高的热导率,优异的介电性能、声波传输特性,具有优良的压电性能以及较大的禁带宽度,可以作为新型高密度封装基板材料,大功率电路模块的基板材料。在对氮化铝的研究过程中,人们发现了氮化铝晶须的诸多优良特性,氮化铝晶须的晶体结构完整,内部缺陷较少,其强度和模量可接近完整晶体材料的理论值,可作为增韧补强剂用于制备新型复合结构材料,还可以利用其高导热性制成性能优异的功能型复合材料,具有良好的应用前景。氮化铝的制备方法有很多,主要有升华凝聚法、CVD法、碳热还原法,升华凝聚法需要较高的生长温度,对设备的要求高,碳热还原法反应所需温度高于1700℃,产率低,且晶须形态不完整,CVD法工艺相对成熟,设备较简单,成膜速率高。但直接采用HVPE法获得单晶氮化铝晶须的研究尚未见报道。
发明内容
本发明的目的是提供一种工艺简单、成本较低、且效率高的氮化铝单晶晶须的制备方法。
一种氮化铝单晶晶须的制备方法,步骤如下:
1)备料:称量高纯铝颗粒放入刚玉舟中备用;利用丙酮和异丙醇清洗衬底表面;2)装料:氢化物气相外延设备反应室中刚玉管的一端作为进气口,将步骤1)装有铝颗粒的刚玉舟从另一端推入刚玉管中,直至源区位置,再将衬底放入刚玉管内距离刚玉管端口5~10cm处;
3)生长:先将反应室内抽真空至真空度为30Pa以下,之后通入氮气,将源区温度升温至1400℃,衬底所处的生长区温度升温至1550℃,温度到达设定值后,通入氩气,调节氮气及氩气流量,使压力控制为10kPa,保温40~90min;
4)降温:循环冷却水冷却至室温,取出样品,在衬底上生长有白色沉积物即为氮化铝单晶晶须。
上述技术方案中,选用的铝颗粒纯度不低于99.999%。所述的衬底采用蓝宝石。
上述技术方案中,步骤3)中抽真空后,通入氮气流量为0.1L/min。控制的源区温度为1400℃,生长区温度为1550℃,通入氩气,调节氮气及氩气流量,使氮气路流量为1.1-4L/min,氩气路流量为500-600mL/min,压力控制为10kPa。
本发明的有益效果在于:
采用的反应源气体为氮气及铝蒸气来生长氮化铝晶须,反应过程中无需使用氨气作为氮源,提高了实验的安全性和可靠性,又减少了原料的使用,节约了能源,降低了成本。且制得的氮化铝晶须为单晶,结晶质量高,为高质量氮化铝材料的制备提供了新思路。
附图说明
图1是用本发明方法制备的氮化铝晶须的X射线衍射(XRD)图谱;
图2是用本发明方法制备的氮化铝晶须的扫描电镜(SEM)图谱;
图3是本发明方法制得的氮化铝晶须的TEM图谱;
具体实施方式
实施例1
1)称量1g的纯度为99.999%的铝颗粒放入刚玉舟中备用;利用丙酮和异丙醇各超声清洗蓝宝石表面10min,吹干备用;
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