[发明专利]一种去除死区电压的小信号检测电路及方法

权利要求书

1.一种去除死区电压的小信号检测电路，其特征在于，包括带ADC检测功能的MCU主控模块、为所述MCU主控模块提供电压的LDO模块、第一偏置电压电阻、第二偏置电压电阻和电流采样电阻；所述LDO模块、所述第一偏置电压电阻、所述第二偏置电压电阻、所述电流采样电阻和所述MCU主控模块依次电连接构回路；所述电流采样电阻与所述第二偏置电压电阻电连接一端电连接有采样电流输入端；所述第二偏置电压电阻与所述第一偏置电压电阻电连接一端与所述MCU主控模块的ADC端电连接。

2.根据权利要求1所述的去除死区电压的小信号检测电路，其特征在于，所述回路中，设置有与所述第二偏置电压电阻以及所述电流采样电阻并联的滤波电容。

3.根据权利要求1或2所述的去除死区电压的小信号检测电路，其特征在于，所述电流采样电阻与所述MCU主控模块电连接一端接地。

4.根据权利要求1所述的去除死区电压的小信号检测电路，其特征在于，所述第一偏置电压电阻为可调电阻。

5.根据权利要求1所述的去除死区电压的小信号检测电路，其特征在于，所述第二偏置电压电阻为可调电阻。

6.一种去除死区电压的小信号检测方法，根据权利要求1-5任一所述的去除死区电压的小信号检测电路，其实现方法如下：

所述MCU主控模块通过ADC端采集所述采样电流输入模块无输入电流状态下的第一信号量，并保存；

所述MCU主控模块通过ADC端采集所述采样电流输入模块有输入电流状态下的第二信号量，并保存；

所述MCU主控模块根据所述第一信号量和所述第二信号量的差值计算得到所述采用电流输入模块输入的电流大小和电流方向。

7.根据权利要求6所述的去除死区电压的小信号检测方法，其特征在于，在所述采样电流输入模块无输入电流状态下，通过调节所述第一偏置电压电阻和/或所述第二偏置电压电阻阻值，调节所述MCU主控模块的ADC采集线性及精度区间。