[发明专利]一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201811631914.2 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109738437B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 尤鸿芃;奚云鹏;林丽妲;李娜 申请(专利权)人: 西安西电电力电容器有限责任公司;中国西电电气股份有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/88
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;任默闻
地址: 710082 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 金属化 薄膜 电容器 自愈 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,包括:传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;

所述传送装置,用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;

所述控制装置,用于控制所述传送装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行传送;

所述拍摄装置,用于拍摄所述传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;

所述处理装置,用于获取所述拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算;

其中,对图片上的自愈点进行测量计算包括:

将拍摄装置拍摄到的自愈电容器元件的薄膜的N张图片进行去重处理,得到第一图片组,其中,N为大于等于2的整数;

对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理,得到第二图片组;

根据第二图片组中的每组图片的图片边长和分辨率,确定图片中每个像素点的面积和边长;

将第二图片组中的每组图片的图像数据分别转换成为矩阵,提取出矩阵中所有值为1的元素,分别将相邻的值为1的元素进行组合形成自愈点区域;

根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每组图片中的每个像素点的边长,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标;根据第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标,确定每个自愈点的X轴坐标和Y轴坐标;

根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每个像素点的面积,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点的面积。

2.如权利要求1所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述传送装置包括放卷装置和收卷装置;

所述放卷装置包括第一定位滚轴和至少一个放卷轴,所述收卷装置包括第二定位滚轴和至少一个收卷轴;其中,所述第一定位滚轴和所述第二定位滚轴用于将所述自愈电容器元件的薄膜定位于拍摄装置的拍摄范围内。

3.如权利要求2所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述放卷装置还包括至少一个张力卷轴,用于控制所述自愈电容器元件的薄膜传送时的张力。

4.如权利要求3所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,包括:

所述自愈电容器元件的薄膜在所述放卷轴和所述收卷轴间传送时经过所述张力卷轴、所述第一定位滚轴和所述第二定位滚轴。

5.如权利要求1所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述控制装置设置有速度传感器;

所述控制装置通过所述速度传感器检测转动速度。

6.如权利要求5所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,所述拍摄装置根据所述转动速度设置拍摄间隔,根据所述拍摄间隔对传送中的所述自愈电容器元件的薄膜进行连续拍摄。

7.如权利要求1所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置,其特征在于,还包括:光源,所述光源用于在所述拍摄装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行拍摄时补光。

8.一种基于上述权利要求1至7任一项所述的金属化薄膜电容器自愈点测量装置的薄膜电容器自愈点测量方法,其特征在于,所述测量方法包括:

将拍摄装置拍摄到的自愈电容器元件的薄膜的N张图片进行去重处理,得到第一图片组,其中,N为大于等于2的整数;

对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理,得到第二图片组;

根据第二图片组中的每组图片的图片边长和分辨率,确定图片中每个像素点的面积和边长;

将第二图片组中的每组图片的图像数据分别转换成为矩阵,提取出矩阵中所有值为1的元素,分别将相邻的值为1的元素进行组合形成自愈点区域;

根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每组图片中的每个像素点的边长,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标;根据第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标,确定每个自愈点的X轴坐标和Y轴坐标;

根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每个像素点的面积,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点的面积。

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