[发明专利]一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201811631914.2 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109738437B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 尤鸿芃;奚云鹏;林丽妲;李娜 申请(专利权)人: 西安西电电力电容器有限责任公司;中国西电电气股份有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/88
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王天尧;任默闻
地址: 710082 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 金属化 薄膜 电容器 自愈 测量 装置 方法
【说明书】:

本申请公开了一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法,该装置包括:传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;其中传送装置用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;控制装置用于控制传送装置对自愈电容器元件的薄膜进行传送;拍摄装置用于拍摄传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;处理装置用于获取拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。从而对金属化薄膜电容器上的自愈点实现了高效且准确的测量统计。

技术领域

本申请涉及电子元件以及电气技术领域,尤其涉及一种薄膜电容器自愈点测量装置及方法。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本申请实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

金属化薄膜电容器由金属化薄膜卷绕而成,其在运行或老化试验中可能发生自愈现象,自愈位置处的金属层会被蒸发从而形成自愈点。自愈点的大小、数量以及位置等与薄膜的品质、工艺的优劣、运行环境等密切相关,因此对自愈点进行统计测量是研究金属化膜电容器的常见和有效途径。

目前,对于自愈点的测量和统计工作主要采用人工方法,即人工观察薄膜表面,测量自愈点的面积并分段计数。就电力电容器而言,单只元件可能由长度达200m左右薄膜卷制而成,用人工的方法进行测量和统计工作量巨大,且容易遗漏,同时由于自愈点的形状不规则,人工对自愈点面积的计算极不精确。

因此如何高效且准确地对自愈点进行测量和统计,是亟待解决的问题。

发明内容

本申请实施例提供一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置及方法,实现对金属化薄膜电容器上的自愈点进行高效且准确的测量统计。

第一方面,本申请实施例提供的一种金属化薄膜电容器自愈点测量装置包括:传送装置、拍摄装置、控制装置、处理装置;

所述传送装置,用于对自愈电容器元件的薄膜进行传送;

所述控制装置,用于控制所述传送装置对所述自愈电容器元件的薄膜进行传送;

所述拍摄装置,用于拍摄所述传送装置传送的自愈电容器元件的薄膜;

所述处理装置,用于获取所述拍摄装置拍摄的自愈电容器元件的薄膜的图片,以及对图片上的自愈点进行测量计算。

第二方面,本申请实施例还提供一种基于第一方面的装置的金属化薄膜电容器自愈点测量方法,该方法包括:

将拍摄装置拍摄到的自愈电容器元件的薄膜的N张图片进行去重处理,得到第一图片组,其中,N为大于等于2的整数;

对所述第一图片组的每组图片进行二值化处理,得到第二图片组;

根据第二图片组中的每组图片的图片边长和分辨率,确定图片中每个像素点的面积和边长;

将第二图片组中的每组图片的图像数据分别转换成为矩阵,提取出矩阵中所有值为1的元素,分别将相邻的值为1的元素进行组合形成自愈点区域;

根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每组图片中的每个像素点的边长,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标;根据第二图片组的每组图片中的每个自愈点区域中的所有元素的X轴坐标和Y轴坐标,确定每个自愈点的X轴坐标和Y轴坐标;

根据第二图片组中的每组图片的分辨率和每个像素点的面积,确定第二图片组的每组图片中的每个自愈点的面积。

第三方面,本申请还提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述第二方面所述方法。

第四方面,本申请还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有执行上述第二方面所述方法的计算机程序。

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