[发明专利]导电膜均匀性检测装置、系统以及方法

说明书

本发明涉及导电膜领域，具体而言，涉及一种导电膜均匀性检测装置、系统以及方法。该装置包括多个测试头、测试装置以及数据收集分析装置。多个测试头间隔设置，每一个测试头均被配置为用于接触在导电膜上。每一个测试头均电连接于测试装置，测试装置被配置为用于检测位于每相邻的两个测试头之间的导电膜的电性能参数。分析装置电连接于测试装置，用于根据测试装置测得的电性能参数判断导电膜的电阻均匀性。将多个测试头间隔设置，能够测量每相邻的两个测试头之间的导电膜的电性能，从而获得导电膜多个小区域的电性能参数，进而对整个导电膜的均匀性作出评价。该装置，操作简单，测试的准确性高。

技术领域

本发明涉及导电膜领域，具体而言，涉及一种导电膜均匀性检测装置、系统以及方法。

背景技术

导电膜的稳定性对于其品质的影响很大。

目前导电膜的检测方法基本上是通过显微镜观察缺陷，或是取样通电检测，或是对产品进行高电压长时间测试，或是通电升温后通过红外成像仪进行观察。

另有的检测方法采有欧姆电阻测量仪对整个电热膜片电阻进行测量和比对，将阻值超过设定误差范围以外的电热膜片归类为不合格品。另有的一些检测方法采用石墨烯远红外电热膜片检测流水线上整个膜片的电阻。另有的一些检测方法采用自动测电阻机对电热膜片整片进行检测。

然而这些检测方法都是测试膜片整体的电阻值，并没有对膜片各个小区域电阻均匀性进行检测。这种检测方法存在的一些问题，例如很有可能存在部分电阻过高和部分电阻过低并存，但是整体电阻值与其他膜片差别不大；或者是局部有一个对整体电阻影响不大的小缺陷，但是整体电阻值合格，在这种情况下虽然可以通过检测，但是在该产品使用中有严重的安全隐患，极易产生局部过热烧毁，局部打火燃烧等事故。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种导电膜均匀性检测装置、系统以及方法，能够检测导电膜电性能的均匀性，操作简单，便捷。

第一方面，本发明实施例提供了一种导电膜均匀性检测装置，包括：多个测试头，多个测试头间隔设置，每一个测试头均被配置为用于接触在导电膜上；测试装置，每一个测试头均电连接于测试装置，测试装置被配置为用于检测位于每相邻的两个测试头之间的导电膜的电性能参数；以及数据收集分析装置，电连接于测试装置，用于根据测试装置测得的电性能参数判断导电膜的电阻均匀性。

通过将多个测试头接触于导电膜，多个测试头均电连接于测试装置，能够对导电膜的电性能进行测试。将多个测试头间隔设置，能够测量每相邻的两个测试头之间的导电膜的电性能，从而获得导电膜多个小区域的电性能参数，进而对整个导电膜的均匀性作出评价。该装置，操作简单，测试的准确性高。

在本发明的一些具体实施例中，多个测试头排列成至少一排，每一排相邻的两个测试头之间等距离设置；当多个测试头排列成多排时，每相邻的两排测试头插空设置。

通过将多个测试头排列设置为至少一排，并且保证每一排中相邻的两个测试头之间的等距离设置，从而使得根据各个小区域的导电膜的电性能，判断整个导电膜的电性能的均匀性的更加容易，更加方便。

在本发明的一些具体实施例中，每一个测试头均连接有导杆，每一个导杆均电连接于测试装置。

通过设置导杆，使得每一个测试头能够更加方便地连接于测试装置，进而方便对每一个测试头分别控制。

在本发明的一些具体实施例中，导电膜均匀性检测装置还包括固定支架，每一个测试头均连接于固定支架上。

通过采用固定支架将多个测试头连接在一起，能够更加稳定地将相邻的两个测试头之间的距离调整一致。并且能够防止多个测试头之间产生位移。从而使得整个导电膜均匀性检测装置结构稳定，进而提高检测的准确性。

在本发明的一些具体实施例中，测试头由导电材料制成。