[发明专利]一种测试信号生成方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811635997.2 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109521754B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 苏宏业;张艳辉 申请(专利权)人: 浙江中智达科技有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02;G05B11/42
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 310012 浙江省杭州市余杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 信号 生成 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种测试信号生成方法,其特征在于,包括:

依据预设初始测试信号生成规则,生成初始测试信号;

将所述初始测试信号叠加在控制器输出的控制信号上,使得所述初始测试信号与控制器输出的控制信号一同输入到生产设备模型中,得到响应信号,所述控制器输出的控制信号为对生产设备模型执行控制功能的信号;

依据所述响应信号,对所述初始测试信号进行调整,直到得到的响应信号满足预设响应信号条件。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述依据预设初始测试信号生成规则,生成初始测试信号的过程包括:

依据预设初始测试信号生成规则,对初始测试信号的信号类型以及信号特性进行设置,生成初始测试信号。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述信号特性至少包括:信号起始点、信号幅值、信号激励时间、信号稳定时间以及信号测试时间。

4.根据权利要求1-3任意一项所述的方法,其特征在于,所述依据所述响应信号,对所述初始测试信号进行调整,直到得到的响应信号满足预设响应信号条件的过程包括:

依据所述响应信号的信号值与响应信号标准值的偏差,对所述初始测试信号的信号幅值进行调整,直到得到的响应信号与响应信号标准值的偏差满足预设响应信号偏差条件。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的方法,其特征在于,所述依据所述响应信号的信号值与响应信号标准值的偏差,对所述初始测试信号的信号幅值进行调整,直到得到的响应信号与响应信号标准值的偏差满足预设响应信号偏差条件的过程包括:

如果获取到的所述响应信号的信号值与响应信号标准值的最大偏差值小于预设偏差下限值,则增加所述初始测试信号的信号幅值;如果所述响应信号的信号值与响应信号标准值的最大偏差值大于预设偏差上限值,则减少所述初始测试信号的信号幅值;直到得到的响应信号与响应信号标准值的偏差处在预设偏差下限值与预设偏差上限值之间。

6.一种测试信号生成装置,其特征在于,包括:

初始测试信号生成模块,用于依据预设初始测试信号生成规则,生成初始测试信号;

响应信号获取模块,用于将所述初始测试信号叠加在控制器输出的控制信号上,使得所述初始测试信号与控制器输出的控制信号一同输入到生产设备模型中,得到响应信号,所述控制器输出的控制信号为对生产设备模型执行控制功能的信号;

初始测试信号调整模块,用于依据所述响应信号,对所述初始测试信号进行调整,直到得到的响应信号满足预设响应信号条件。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述初始测试信号生成模块包括:

初始测试信号生成子模块,用于依据预设初始测试信号生成规则,对初始测试信号的信号类型以及信号特性进行设置,生成初始测试信号。

8.根据权利要求6-7任意一项所述的装置,其特征在于,所述初始测试信号调整模块包括:

初始测试信号调整子模块,用于依据所述响应信号的信号值与响应信号标准值的偏差,对所述初始测试信号的信号幅值进行调整,直到得到的响应信号与响应信号标准值的偏差满足预设响应信号偏差条件。

9.根据权利要求6-7任意一项所述的装置,其特征在于,所述初始测试信号调整子模块具体用于:如果获取到的所述响应信号的信号值与响应信号标准值的最大偏差值小于预设偏差下限值,则增加所述初始测试信号的信号幅值;如果所述响应信号的信号值与响应信号标准值的最大偏差值大于预设偏差上限值,则减少所述初始测试信号的信号幅值;直到得到的响应信号与响应信号标准值的偏差处在预设偏差下限值与预设偏差上限值之间。

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