[发明专利]一种测试信号生成方法及装置

说明书

本申请公开了一种测试信号生成方法及装置，包括：依据预设初始测试信号生成规则，生成初始测试信号；将所述初始测试信号与控制器输出的控制信号一同输入到生产设备模型中，得到响应信号；依据所述响应信号，对所述初始测试信号进行调整，直到得到的响应信号满足预设响应信号条件。由于生产设备模型对初始测试信号与控制信号进行响应得到的响应信号能够反应生产设备模型运行状况，本申请在对生产设备模型进行测试过程中，可以依据响应信号对初始测试信号进行实时调整，直到得到的响应信号满足预设响应信号条件，从而能够得到符合生产设备模型运行状况的测试信号，提高了测试信号的准确性，进而提高了PID控制器的控制参数整定结果的准确定。

技术领域

本发明涉及自动控制技术领域，具体涉及一种测试信号生成方法及装置。

背景技术

随着工业自动化水平的逐步提高，以DCS(Distributed Control System，分布式控制系统)和PLC(Programmable Logic Controller，可编程逻辑控制器)为核心的大规模集散控制系统已经成为工业生产的必备，在控制系统运行过程中，PID(proportion-integral-differential，比例-积分-微分)控制器成为了生产设备运行的基础。

生产设备运行过程中，随着生产设备的老化、技术的改造或者生产工艺的调整，生产设备的运行状况发生了变化，导致PID控制器在投运初期设定的输入到生产设备中的控制参数不再适用于生产设备的运行状况，因此，需要对PID控制器的控制参数进行整定。一种非常有效的整定方法为内模控制整定法，而内模控制整定法的前提是对生产设备运行参数的确定，从而依据确定好的生产设备运行参数对PID控制器的控制参数进行整定。

对生产设备运行参数的确定过程，需要对生产设备模型不断输入测试信号，并获取生产设备模型的响应信号，从而依据测试信号以及响应信号得到生产设备运行参数。而测试信号的准确性直接影响着生产设备运行参数的准确性，进而影响着PID控制器的控制参数整定结果的准确定，基于此，如何提供一种测试信号生成方法，提高PID控制器的控制参数整定结果的准确定，成为目前亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种测试信号生成方法及装置，能够提高测试信号的准确性，进而提高PID控制器的控制参数整定结果的准确定。

一种测试信号生成方法，包括：

依据预设初始测试信号生成规则，生成初始测试信号；

将所述初始测试信号与控制器输出的控制信号一同输入到生产设备模型中，得到响应信号；

依据所述响应信号，对所述初始测试信号进行调整，直到得到的响应信号满足预设响应信号条件。

优选的，所述依据预设初始测试信号生成规则，生成初始测试信号的过程包括：

依据预设初始测试信号生成规则，对初始测试信号的信号类型以及信号特性进行设置，生成初始测试信号。

优选的，所述信号特性至少包括：信号起始点、信号幅值、信号激励时间、信号稳定时间以及信号测试时间。

优选的，所述依据所述响应信号，对所述初始测试信号进行调整，直到得到的响应信号满足预设响应信号条件的过程包括：

依据所述响应信号的信号值与响应信号标准值的偏差，对所述初始测试信号的信号幅值进行调整，直到得到的响应信号与响应信号标准值的偏差满足预设响应信号偏差条件。

优选的，所述依据所述响应信号的信号值与响应信号标准值的偏差，对所述初始测试信号的信号幅值进行调整，直到得到的响应信号与响应信号标准值的偏差满足预设响应信号偏差条件的过程包括：