[发明专利]一种物质识别方法、装置和计算机可读存储介质有效
申请号: | 201811641147.3 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109709062B | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
发明(设计)人: | 程良伦;邓广水;何伟健;李学识 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G01N21/3581 | 分类号: | G01N21/3581;G06F17/10 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
地址: | 510060 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 物质 识别 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种物质识别方法,其特征在于,包括:
对目标物质进行太赫兹测量,获得目标光谱曲线;
获取所述目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积,获取所述目标光谱曲线与各个所述上基线对应的下基线围成的下基线面积;
将所述上基线面积与所述下基线面积进行求和计算得到域外区域面积;
根据所述域外区域面积与所述域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据,并确定最大相似度数据;其中,所述特征区域面积是所述上基线和所述下基线围成的面积;
若所述最大相似度数据大于预设阈值,则确定所述目标物质是与所述最大相似度数据对应的标准物质;
获取所述目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积,包括:
利用梯形法计算得到所述目标光谱曲线与各个所述标准物质的光谱曲线的所述上基线围成的所述上基线面积;
根据所述域外区域面积与所述域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据,并确定最大相似度数据,包括:
根据所述域外区域面积与所述域外区域面积对应的所述标准物质的所述特征区域面积利用得到所述相似度数据;其中,Similarityi为所述相似度值,areai为所述域外区域面积,Areai为所述特征区域面积;
根据所述相似度数据确定所述最大相似度数据。
2.根据权利要求1所述的物质识别方法,其特征在于,对目标物质进行太赫兹测量,获得目标光谱曲线,包括:
对所述目标物质进行所述太赫兹测量,获得原目标光谱曲线;
对所述原目标光谱曲线进行离散型最小二乘法计算得到所述目标光谱曲线。
3.一种物质识别装置,其特征在于,包括:
目标光谱曲线获取模块,用于对目标物质进行太赫兹测量,获得目标光谱曲线;
基线面积获取模块,用于获取所述目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积,获取所述目标光谱曲线与各个所述上基线对应的下基线围成的下基线面积;
域外区域面积获取模块,用于将所述上基线面积与所述下基线面积进行求和计算得到域外区域面积;
相似度数据确定模块,用于根据所述域外区域面积与所述域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据,并确定最大相似度数据;其中,所述特征区域面积是所述上基线和所述下基线围成的面积;
物质确定模块,用于若所述最大相似度数据大于预设阈值,则确定所述目标物质是与所述最大相似度数据对应的标准物质;
所述基线面积获取模块包括:
上基线面积获取单元,用于利用梯形法计算得到所述目标光谱曲线与各个所述标准物质的光谱曲线的所述上基线围成的所述上基线面积;
所述相似度数据确定模块包括:
相似度确定单元,用于根据所述域外区域面积与所述域外区域面积对应的所述标准物质的所述特征区域面积利用得到所述相似度数据;其中,Similarityi为所述相似度值,areai为所述域外区域面积,Areai为所述特征区域面积;
最大相似度数据确定单元,用于根据所述相似度数据确定所述最大相似度数据。
4.根据权利要求3所述的物质识别装置,其特征在于,所述目标光谱曲线获取模块包括:
原目标光谱曲线获取单元,用于对所述目标物质进行所述太赫兹测量,获得原目标光谱曲线;
目标光谱曲线获取单元,用于对所述原目标光谱曲线进行离散型最小二乘法计算得到所述目标光谱曲线。
5.一种电子设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至2任一项所述物质识别方法的步骤。
6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至2任一项所述物质识别方法的步骤。
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