[发明专利]一种物质识别方法、装置和计算机可读存储介质

说明书

本申请提供一种物质识别方法，包括：对目标物质进行太赫兹测量，获得目标光谱曲线；获取目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积，获取目标光谱曲线与各个上基线对应的下基线围成的下基线面积；将上基线面积和与下基线面积进行求和计算得到域外区域面积；根据域外区域面积和与域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据，并确定最大相似度数据；若最大相似度数据大于预设阈值，则确定目标物质是与最大相似度数据对应的标准物质。本申请提高物质检测的准确性，改善用户体验。本申请同时还提供了一种物质识别装置、电子设备和计算机可读存储介质，均具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及物质识别技术领域，特别涉及一种物质识别方法、物质识别装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

近年来，物品安全问题日益暴露且形势日益严峻，急需一种能够对物质进行快速有效识别检测的方法。太赫兹波由于具有强穿透性、低能性、指纹谱性等性质，在安全检查、无损检测方面有重要的应用前景。

利用太赫兹时域光谱技术能够有效在较大的波长范围内得到分子间的骨架振动，可以对红外光谱得到的信息进行有效补充。由于每种物质的组成基团不同，采用不同频率的太赫兹波进行照射得到的太赫兹光谱差别较大。太赫兹光谱吸收系数相对稳定，且不同物质在同一频率的吸收系数相差较大。在提取每种物质太赫兹光谱的特征之后，即可用这些特征判别这些物质。

针对太赫兹光谱无明显特征吸收峰的情况，有直接对太赫兹光谱几何曲线进行相似度计算的方法，常用方法有欧式距离法等。但欧式距离方法只适用于两条曲线的比较，根据待测物质曲线和已知物的曲线的距离进行计算，在对物质进行多次太赫兹测量的情况下容易出现误差，易造成物质确定的不准确性，因而判定效率差。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种物质识别方法、物质识别装置、电子设备和计算机可读存储介质，能够提高物质识别的准确性。其具体方案如下：

本申请提供一种物质识别方法，包括：

对目标物质进行太赫兹测量，获得目标光谱曲线；

获取所述目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积，获取所述目标光谱曲线与各个所述上基线对应的下基线围成的下基线面积；

将所述上基线面积和与所述下基线面积进行求和计算得到域外区域面积；

根据所述域外区域面积和与所述域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据，并确定最大相似度数据；其中，所述特征区域面积是所述上基线和所述下基线围成的面积；

若所述最大相似度数据大于预设阈值，则确定所述目标物质是与所述最大相似度数据对应的标准物质。

优选地，获取所述目标光谱曲线与各个标准物质的光谱曲线的上基线围成的上基线面积，包括：

利用梯形法计算得到所述目标光谱曲线与各个所述标准物质的光谱曲线的所述上基线围成的所述上基线面积。

优选地，对目标物质进行太赫兹测量，获得目标光谱曲线，包括：

对所述目标物质进行所述太赫兹测量，获得原目标光谱曲线；

对所述原目标光谱曲线进行离散型最小二乘法计算得到所述目标光谱曲线。

优选地，根据所述域外区域面积和与所述域外区域面积对应的标准物质的特征区域面积得到相似度数据，并确定最大相似度数据，包括：