[发明专利]高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置在审

专利信息
申请号: 201811650361.5 申请日: 2018-12-31
公开(公告)号: CN109499901A 公开(公告)日: 2019-03-22
发明(设计)人: 薛晶;顾超;杨梦琪 申请(专利权)人: 江阴新基电子设备有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00;B07C5/02;B07C5/36
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 赵海波;曹键
地址: 214400 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 横向移位机构 三轴移动装置 纵向移位机构 半自动测试 移位机构 托盘式 高端 竖向 封装 滑动连接 移动 传统测试设备 横向直线 生产效率 移动位置 掉落 准确率
【说明书】:

发明涉及的一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置,包括横向移位机构、纵向移位机构和竖向移位机构,所述横向移位机构与纵向移位机构滑动连接,所述竖向移位机构与横向移位机构滑动连接,所述纵向移位机构用于将横向移位机构移动至指定产品所在的横向直线的上方,所述横向移位机构用于将竖向移位机构移动至指定产品所在的具体位置并将其吸起转移。本发明涉及的一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置,其移动速度快、移动位置精度准确,提高产品的入位准确率,避免产品中途掉落,克服了传统测试设备存在的缺陷,从而提高生产效率。

技术领域

本发明涉及一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置,适用于BGA/CSP/QFN/QFP等要求特性高的封装产品的测试分选,属于高端封装技术领域。

背景技术

高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备主要是由许多的机械零件配合气动组件、电器元件和测试系统等组成之机电一体化设备,其程控由PLC编写而成。该设备主要包括供收料装置、三轴移动装置、待料定位装置、测试装置等多个局部装置组装而成。传统的测试设备中的移位装置移动速度较慢,在运行过程中出现移动位置精度不准确,造成产品入位准确率低,且快速移动时横梁容易晃动,导致产品中途掉落、工作效率低。

发明内容

本发明的目的在于克服上述不足,提供一种用于组装高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备的高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置,其具有定位精准、工作效率高的优点。

本发明的目的是这样实现的:一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置,包括横向移位机构、纵向移位机构和竖向移位机构,所述横向移位机构与纵向移位机构滑动连接,所述竖向移位机构与横向移位机构滑动连接,所述纵向移位机构用于将横向移位机构移动至指定产品所在的横向直线的上方,所述横向移位机构用于将竖向移位机构移动至指定产品所在的具体位置并将其吸起转移。

更进一步的,其用于组装一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备,所述一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备还包括底座,所述底座上设置有供收料装置待料定位装置和测试装置,所述供收料装置用于存放未检测及检测之后的产品,所述待料定位装置用于对未检测的产品进行定位暂存,所述测试装置用于吸取产品并对其进行定位检测。

一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置的生产方法,其生产方法为:启动纵向移位机构电机,纵向移位机构主动轮转动,带动纵向移位机构同步带来回移动,使得纵向移位机构支撑框架来回移动,从而控制横向移位机构沿着纵向移位机构第一直线导轨和纵向移位机构第二直线导轨的长度方向纵向移动,待到达指定产品所在的横向位置后,启动横向移位机构电机,横向移位机构主动轮转动,带动横向移位机构同步带来回移动,使得竖向移位机构支撑板来回移动,从而控制竖向移位机构沿着横向移位机构第一直线导轨和横向移位机构第二直线导轨的长度方向横向移动,待到达指定产品所在的具体位置后,启动竖向移位机构电机,竖向移位机构主动轮转动,带动竖向移位机构同步带来回移动,使得竖向移位机构升降座上下移动,带动竖向移位机构升降杆上下移动,从而实现吸嘴头对产品的吸取。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

本发明一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备三轴移动装置,包括横向移位机构、纵向移位机构和竖向移位机构,其移动速度快、移动位置精度准确,提高产品的入位准确率,避免产品中途掉落,从而提高生产效率。

附图说明

图1为本发明一种高端封装QFN托盘式单颗半自动测试设备的结构示意图。

图2为供收料装置的结构示意图。

图3为三轴移动装置300的结构示意图。

图4为图3中横向移位机构的结构示意图。

图5为图4的爆炸图。

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