[发明专利]一种动态回转窑中心线测量方法在审
申请号: | 201811653286.8 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109668508A | 公开(公告)日: | 2019-04-23 |
发明(设计)人: | 廖义德;张开明;陈绪兵;廖昱 | 申请(专利权)人: | 武汉工程大学;武汉开明高新科技有限公司 |
主分类号: | G01B7/31 | 分类号: | G01B7/31;G01B5/25;G01B21/24 |
代理公司: | 北京市科名专利代理事务所(特殊普通合伙) 11468 | 代理人: | 陈朝阳 |
地址: | 430032 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 轮带 动态回转 中心线测量 测量 回转窑 右托轮 拖轮 计算中心坐标 全站仪测量 中心线垂直 中心线水平 测量设备 动态测量 动态中心 几何关系 数据依据 水平横梁 水平距离 筒体间隙 托轮轴承 分界面 档位 端盖 筒体 托轮 磨损 保证 | ||
本发明属于回转窑动态测量领域,公开一种动态回转窑中心线测量方法,其特征在于,包括如下步骤:1)测量设备安装在轮带与托轮附近,分别测量左拖轮半径、右托轮半径与各档轮带半径;2)测量轮带与筒体间隙;3)搭建水平横梁测量左拖轮、右托轮水平距离,通过几何关系计算轮带中心坐标值;4)全站仪测量各档位轮带中心线水平偏差和轮带中心线垂直偏差,确定筒体的动态中心线,动态回转窑中心线测量完毕。本发明利用托轮轴承端盖上下分界面为基准来计算中心坐标,精确度高,能够实时反映动态回转窑的中心位置及变化情况,能够为后续对窑的磨损情况和调整提供理论与数据依据,保证回转窑的正常工作。
技术领域
本发明属于回转窑动态测量领域,具体涉及一种动态回转窑中心线测量方法。
背景技术
回转窑运行状态紧密相关的轴线检测技术发展经过以下三个阶段,经验判断,静态检测,动态检测、经验判断,由于检测技术与仪器落后,早期对回转窑轴线无法进行准确的测量,在停窑的状况下用经纬仪和激光去测量的筒体中心线,但是回转窑是一个热工设备,冷态下的测量结果不能代表热态时的运行状况,因此需要对回转窑的轴线进行动态检测。
国外的方法具有代表性德国Polysius公司研究了一种托轮位置测量法,采用测地学原理来观测托轮轴心位置,并测量托轮、轮带的直径以及轮带间隙,最后计算出窑体轴线位置。因为该方法是对托轮位置作测量,基准正确,但是需要在轴承端盖有一个50cm的孔,不适合于现场多变的工况。
国外的方法有武汉理工大学的KAS-3型回转窑中心线动态测量法,利用全站仪建立水平和垂直基准,测得传感器探头与基准面的距离,通过安装在水平和垂直方向上的2个位移传感器测得轮带表面变化,得到轮带的中心,存在的缺点是需要人高空作业架设大型高架设备,有很大的安全问题。
山东铝业公司的“改变传感器仰角测量法”,该装置由激光准直仪、水准仪、微型计算机绘图仪、位移传感器、位移校正器、零度定位器等组成,测量开始与结束由零度定位器来控制;完成一周采样后,改变位移传感器与支架横杆的夹角,重复上述测量;最后由计算机程序计算出轮带直径、筒体直径、轮带与筒体间隙及筒体中心位置。其缺点:这套装置操作复杂,对操作人员要求比较高,需要专业的人员才能使用,而且定位基准不明确,测量精度不高。
中南大学的“零位移方向键相法”,该测量方法将电涡流传感器安装于筒体零位移处,获取筒体的位移变化,而后通过前置器、采集卡和计算机及应用软件,进行现场检测,测量。在测试系统中,分析软件能进行中心线预测查询、托轮力查询、调窑参数优化等分析。其缺点:该测量方法的理论依据是在各档两托轮内侧15°方向处筒体的应变为零,然而在对回转窑进行分析的结论中,并没有明确指出筒体上应变为零的区域是在15°方向上,因此零位移方向键相法存在理论误差。
发明内容
本发明的目的是为了解决这一问题,通过对国、内外测量方法的比较,提供一种操作简单,精度高、安全便携,有可靠的定位基准,无理论误差的动态回转窑中心线测量方法。
为实现上述发明目的,本发明的技术方案是:
一种动态回转窑中心线测量方法,其特征在于,包括如下步骤:1)测量设备安装在轮带与托轮附近,分别测量左拖轮半径、右托轮半径与各档轮带半径;2)测量轮带与筒体间隙;3)搭建水平横梁测量左拖轮、右托轮水平距离,通过几何关系计算轮带中心坐标值;4)全站仪测量各档位轮带中心线水平偏差和轮带中心线垂直偏差,确定筒体的动态中心线,动态回转窑中心线测量完毕。
优选地,步骤一,所述测量设备固定安装在轮带1与托轮2附近,接通电源,用铁铲将托轮与轮带外侧周围污物去除,同时将作为感应信号的磁铁片3吸附在托轮或轮带上。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉工程大学;武汉开明高新科技有限公司,未经武汉工程大学;武汉开明高新科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811653286.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:传感器装置
- 下一篇:基于双棱镜单摄像机三维测量工业内窥镜系统及测量方法