[实用新型]一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统有效

专利信息
申请号: 201820131610.9 申请日: 2018-01-25
公开(公告)号: CN207764300U 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 刘梓轩;邱文才;张辉 申请(专利权)人: 深圳市英特瑞半导体科技有限公司
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 代理人: 何婷
地址: 518054 广东省深圳市南山区粤*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 整形模块 被测源 相位测量系统 相位测量装置 参考频率 电子设备 整形电路 参考源 两路 本实用新型 测试环境 工作效率 相位测量 相位差 整形 分频 通信
【权利要求书】:

1.一种相位测量装置,其特征在于,所述装置包括:至少两个被测源、与所述被测源一一对应的整形模块、FPGA以及参考源;

所述整形模块与所述被测源连接,所述整形模块包括至少两路整形电路,用于对被测源的信号进行整形;

所述FPGA与所述整形模块连接,用于计算所述至少两个被测源两两之间的相位差;

所述参考源与所述FPGA连接,用于为所述FPGA提供标准的参考频率,所述参考频率通过分频得到所述FPGA所需的多个频率。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述整形模块包括100mV-500mV整形电路、500mV-5V整形电路及5-12V整形电路;所述整形模块用于通过其中一路整形电路将所述被测源的负电压与大于第一阈值的电压滤除,所述第一阈值小于或等于所述FPGA的最大耐压值。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述整形电路包括电容C1、电阻R1、电阻R2、555定时器以及电容C2;

所述电容C1的一端与所述被测源连接,另一端与所述电阻R1以及电阻R2的一端连接;

所述电阻R1的一端与所述555定时器的高触发端连接,另一端与所述555定时器的复位端以及供电端连接;

所述电阻R2的一端与所述555定时器的低触发端连接,另一端与所述电容C2的一端和地连接;

所述555定时器的接地端与所述电容C2的一端和地连接,所述555定时器的输出端与所述FPGA连接;

所述电容C2的另一端与所述555定时器的控制端连接。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述整形电路的输入端还包括检测单元,所述检测单元具体用于在所述整形电路的输入端检测被测源的信号在预设时间段内的电压是否符合所述FPGA的输入I/O类型的电压范围,当符合时打开所述整形电路的通路,否则关闭所述整形电路的通路。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述检测单元包括电压/频率转换电路、计数器以及定时器,所述电压/频率转换电路与所述被测源连接,所述计数器与所述电压/频率转换电路和所述定时器连接。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述FPGA包括被测源信号选择单元、频率计算单元以及相位比较单元;

所述被测源信号选择单元用于轮询各路被测源经过整形后的输出信号,并通过所述输出信号上升沿或下降沿的变化触发选择有效的整形电路的输出信号作为被测源信号;

所述频率计算单元用于计算所述被测源信号对应的频率值,并输出所述被测源信号对应的1PPS信号;

所述相位比较单元用于选择一路被测源信号对应的1PPS信号作为主对比源,将其余被测源信号对应的1PPS信号分别与所述主对比源比较得出相位差。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述频率计算单元具体用于:

将参考源信号分频得出闸门时间对应的信号,所述闸门时间设置为1PPS;

依据所述闸门时间计算所述被测源信号的重复变化次数,所述重复变化次数即为所述被测源信号对应的频率值,其中,所述被测源信号与参考源信号符合采样定律。

8.一种电子设备,其特征在于,包括如权利要求1至7任一项所述的相位测量装置。

9.一种相位测量系统,其特征在于,包括如权利要求1至7任一项所述的相位测量装置以及智能终端,所述智能终端与所述相位测量装置连接,用于通过图表的形式显示所述相位差。

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