[实用新型]一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统有效

专利信息
申请号: 201820131610.9 申请日: 2018-01-25
公开(公告)号: CN207764300U 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 刘梓轩;邱文才;张辉 申请(专利权)人: 深圳市英特瑞半导体科技有限公司
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 深圳市爱迪森知识产权代理事务所(普通合伙) 44341 代理人: 何婷
地址: 518054 广东省深圳市南山区粤*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 整形模块 被测源 相位测量系统 相位测量装置 参考频率 电子设备 整形电路 参考源 两路 本实用新型 测试环境 工作效率 相位测量 相位差 整形 分频 通信
【说明书】:

实用新型涉及通信授时领域,提供了一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统。装置包括至少两个被测源、与被测源一一对应的整形模块、FPGA以及参考源;整形模块与被测源连接,整形模块包括至少两路整形电路,用于对被测源的信号进行整形;FPGA与整形模块连接,用于计算至少两个被测源两两之间的相位差;参考源与FPGA连接,用于为FPGA提供标准的参考频率,参考频率通过分频得到FPGA所需的多个频率。通过设置至少两路整形电路的整形模块以及与整形模块连接的FPGA来实现至少两个被测源两两之间的相位测量,以达到测试环境搭建简单、设备精简、成本较低且提升工作效率。

技术领域

本实用新型涉及通信授时领域,特别是涉及一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统。

背景技术

在通信授时领域中,往往需要对两个设备或若干个设备的输出频率与某一标准源进行相位偏差测量,以确保设备与设备间、网络与网络间的同步性能。目前,为解决两个或多个被测源之间的相位偏差测量,一般需搭建测试环境再进行测试,一个被测源所需搭建测试环境对应一套设备,该设备包括整形电路、分频电路、频率计以及参考源等。

实用新型人在实现本实用新型的过程中,发现相关技术存在以下问题:现有的相位偏差测量需要依据被测源的幅度与波形搭建相应的整形电路和分频电路将被测源信号转变成可以被频率计可以接受的计数信号,测试环境搭建复杂;同时,每增加一路被测源就需要增加一套设备,并且一套设备一个时间只能测试一对频率之间的相位偏差,设备冗余、价格昂贵且工作效率不高。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种测试环境搭建简单、设备精简、成本较低且提升工作效率的相位测量装置、电子设备及相位测量系统。

在第一方面,为解决上述技术问题,本实用新型的实施例公开了一种相位测量装置,所述装置包括:至少两个被测源、与所述被测源一一对应的整形模块、FPGA以及参考源;

所述整形模块与所述被测源连接,所述整形模块包括至少两路整形电路,用于对被测源的信号进行整形;

所述FPGA与所述整形模块连接,用于计算所述至少两个被测源两两之间的相位差;

所述参考源与所述FPGA连接,用于为所述FPGA提供标准的参考频率,所述参考频率通过分频得到所述FPGA所需的多个频率。

可选地,所述整形模块包括100mV-500mV整形电路、500mV-5V整形电路及5-12V整形电路;所述整形模块用于通过其中一路整形电路将所述被测源的负电压与大于第一阈值的电压滤除,所述第一阈值小于或等于所述FPGA的最大耐压值。

可选地,所述整形电路包括电容C1、电阻R1、电阻R2、555定时器以及电容C2;

所述电容C1的一端与所述被测源连接,另一端与所述电阻R1以及电阻R2的一端连接;

所述电阻R1的一端与所述555定时器的高触发端连接,另一端与所述555定时器的复位端以及供电端连接;

所述电阻R2的一端与所述555定时器的低触发端连接,另一端与所述电容C2的一端和地连接;

所述555定时器的接地端与所述电容C2的一端和地连接,所述555定时器的输出端与所述FPGA连接;

所述电容C2的另一端与所述555定时器的控制端连接。

可选地,所述整形电路的输入端还包括检测单元,所述检测单元具体用于在所述整形电路的输入端检测被测源的信号在预设时间段内的电压是否符合所述FPGA的输入I/O类型的电压范围,当符合时打开所述整形电路的通路,否则关闭所述整形电路的通路。

可选地,所述检测单元包括电压/频率转换电路、计数器以及定时器,所述电压/频率转换电路与所述被测源连接,所述计数器与所述电压/频率转换电路和所述定时器连接。

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