[实用新型]光谱测量采样装置及光谱测量系统

权利要求书

1.一种光谱测量采样装置，其特征在于，包括：光谱仪、调节装置、光阑、积分球和发光芯片；

所述调节装置设置于所述光谱仪和所述积分球之间，且所述调节装置分别与所述光谱仪和所述积分球连接；

所述积分球靠近所述调节装置的一端设置有出光口，所述调节装置设置有通孔，所述光谱仪靠近所述调节装置的一端设置有入光口，所述出光口、所述通孔和所述入光口呈同轴设置；

所述积分球远离所述调节装置的一端设置有容置槽，所述发光芯片设置于所述容置槽内，所述发光芯片发射的光依次通过所述出光口、所述通孔和所述入光口进入到所述光谱仪中，所述光谱仪用于测量分析光谱；

所述调节装置内设置有容置腔，所述光阑设置有多个，且多个所述光阑的孔径均不同，多个所述光阑均可沿着所述容置腔内部移动，多个所述光阑均可与所述通孔同轴，以使所述发光芯片发射的光通过不同孔径的所述光阑进入到所述光谱仪中，以改变光进入光谱仪的能量。

2.根据权利要求1所述的光谱测量采样装置，其特征在于，所述调节装置包括调节器壳体和推杆；

所述容置腔设置于所述调节器壳体内，所述推杆伸入到所述容置腔内，且所述推杆与所述光阑连接，所述推杆用于带动多个所述光阑移动，以使所述发光芯片发射的光通过不同孔径的所述光阑进入到所述光谱仪中，以改变光从所述通孔进入到所述光谱仪的能量。

3.根据权利要求2所述的光谱测量采样装置，其特征在于，所述调节器壳体的外表面上设置有刻度线；

所述刻度线设置有多个，且多个所述刻度线均设置于所述调节器壳体的外表面上，所述刻度线用于观察所述推杆相对于所述调节器壳体的位置。

4.根据权利要求1所述的光谱测量采样装置，其特征在于，还包括供电电极；

所述供电电极与所述发光芯片电连接，所述供电电极用于为所述发光芯片提供电能。

5.根据权利要求4所述的光谱测量采样装置，其特征在于，所述供电电极包括正电极和负电极；

所述正电极和所述负电极分别与所述发光芯片正负两端电连接。

6.根据权利要求5所述的光谱测量采样装置，其特征在于，还包括探针；

所述正电极和所述负电极分别通过所述探针与所述发光芯片正负两端连接。

7.根据权利要求1所述的光谱测量采样装置，其特征在于，还包括控制开关；

所述控制开关与所述发光芯片电连接，所述控制开关用于控制所述发光芯片的开启或关闭。

8.一种光谱测量系统，其特征在于，包括处理器、显示器和如权利要求1-7任一项所述的光谱测量采样装置；

所述光谱仪与所述处理器电连接，所述处理器与所述显示器电连接，所述光谱仪测量分析光谱，并将测量信息传递至所述处理器中，所述处理器处理此测量信息，并将处理后的测量信息传递至所述显示器中，所述显示器显示此测量信息。

9.根据权利要求8所述的光谱测量系统，其特征在于，还包括位置感应器；

所述位置感应器设置于所述调节装置内，且所述位置感应器与所述光谱仪电连接，所述调节装置设置有推杆，所述推杆用于带动多个所述光阑移动，所述位置感应器用于检测所述推杆的位置信息，并将此位置信息传递至所述处理器中，所述处理器用于对应此位置信息，以将此位置对应的所述光阑的孔径信息传递至所述显示器中，所述显示器显示此所述光阑的孔径。

10.根据权利要求8所述的光谱测量系统，其特征在于，所述处理器设置为计算机。