[实用新型]光谱测量采样装置及光谱测量系统

说明书

本实用新型提供了一种光谱测量采样装置及光谱测量系统，涉及光谱测量技术领域，包括：光谱仪、调节装置、光阑、积分球和发光芯片；通过积分球中的光进入到光谱仪时，利用调节装置改变光进入光谱仪的能量，使不同功率的芯片在测试时能量不溢出采样量程，同时将发光芯片的供电机构设置在积分球的容置槽内，大大减少芯片测量时漏光造成的测量误差，解决了传统积分球采光测量技术无法将所有光能量收集在积分球内部，无法调节不同功率发光芯片进入光谱仪的光能量超出采样量程的问题。本实用新型通过调节不同的光阑孔径，实现了对不同功率的芯片光谱的精确测量。

技术领域

本实用新型涉及光谱测量技术领域，尤其是涉及一种光谱测量采样装置及光谱测量系统。

背景技术

在现有光谱测量机构中，存在两个严重影响检测数据精确度的问题。

其一，由于发光芯片的发光角度大，积分球入光口应尽可能靠近发光芯片以收集较多的光，从而提高测量数据的精确度，但由于给发光芯片供电需要用到的供电机构体积较大使得积分球与发光芯片距离较远，这种机械结构缺陷导致测量时漏光现象比较严重，测出的数据不够精确。

其二，当发光芯片发光强度过大时，会超出现有光谱仪的光谱测量量程，光谱仪无法测量。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光谱测量采样装置及光谱测量系统，以缓解了现有技术中存在的积分球对光源进行聚光时，漏光比较严重，且发光芯片发光强度过大时，会超出现有光谱仪的光谱测量量程，光谱仪无法测量的技术问题。

本实用新型提供的光谱测量采样装置，包括：光谱仪、调节装置、光阑、积分球和发光芯片；调节装置设置于光谱仪和积分球之间，且调节装置分别与光谱仪和积分球连接；积分球靠近调节装置的一端设置有出光口，调节装置设置有通孔，光谱仪靠近调节装置的一端设置有入光口，出光口、通孔和入光口呈同轴设置；积分球远离调节装置的一端设置有容置槽，发光芯片设置于容置槽内，发光芯片发射的光依次通过出光口、通孔和入光口进入到光谱仪中，光谱仪用于测量分析光谱；调节装置内设置有容置腔，光阑设置有多个，且多个光阑的孔径均不同，多个光阑均可沿着容置腔内部移动，多个光阑均可与通孔同轴，以使发光芯片发射的光通过不同孔径的光阑进入到光谱仪中，以改变光进入光谱仪的能量。

进一步的，调节装置包括调节器壳体和推杆；容置腔设置于调节器壳体内，推杆伸入到容置腔内，且推杆与光阑连接，推杆用于带动多个光阑移动，以使发光芯片发射的光通过不同孔径的光阑进入到光谱仪中，以改变光从通孔进入到光谱仪的能量。

进一步的，调节器壳体的外表面上设置有刻度线；刻度线设置有多个，且多个刻度线均设置于调节器壳体的外表面上，刻度线用于观察推杆相对于调节器壳体的位置。

进一步的，光谱测量采样装置还包括供电电极；供电电极与发光芯片电连接，供电电极用于为发光芯片提供电能。

进一步的，供电电极包括正电极和负电极；正电极和负电极分别与发光芯片正负两端电连接。

进一步的，光谱测量采样装置还包括探针；正电极和负电极分别通过探针与发光芯片正负两端连接。

进一步的，光谱测量采样装置还包括控制开关；控制开关与发光芯片电连接，控制开关用于控制发光芯片的开启或关闭。

本实用新型提供的光谱测量系统，包括处理器、显示器和光谱测量采样装置；光谱仪与处理器电连接，处理器与显示器电连接，光谱仪测量分析光谱，并将测量信息传递至处理器中，处理器处理此测量信息，并将处理后的测量信息传递至显示器中，显示器显示此测量信息。