[实用新型]一种数字锁相环测试适配器有效

专利信息
申请号: 201820142442.3 申请日: 2018-01-26
公开(公告)号: CN207798883U 公开(公告)日: 2018-08-31
发明(设计)人: 石雪梅;李盛杰;刘敦伟;罗晶;顾颖 申请(专利权)人: 航天科工防御技术研究试验中心
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 王刚
地址: 100085*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 数字锁相环 电容电阻 继电控制器 连接器 测试适配器 被测器件 输出时钟信号 本实用新型 测试系统 测试要求 频率测试 阵列选择 电容 电阻 母版 适配 生产成本 节约
【权利要求书】:

1.一种数字锁相环测试适配器,基于ATE测试系统V93000,其特征在于,用于适配数字锁相环MC74HC4046,包括:连接器、继电控制器以及电容电阻阵列;

所述连接器与测试系统母版相连;

所述电容电阻阵列与被测器件相连;

所述继电控制器控制所述电容电阻阵列选择不同的电阻和电容,与所述被测器件相连。

2.根据权利要求1所述的数字锁相环测试适配器,其特征在于,所述电容电阻阵列包括电阻阵列和电容阵列;

所述电阻阵列包括多个电阻并联,多个电阻并联后一端接地,一端与被测器件相连;

所述电容阵列包括多个电容并联,多个电容并联后两端分别与被测器件的两个对应的管脚相连。

3.根据权利要求2所述的数字锁相环测试适配器,其特征在于,每个电阻的阻值不相同;每个电容的容值不相同。

4.根据权利要求2所述的数字锁相环测试适配器,其特征在于,所述电阻阵列包括八个电阻并联,所述电容阵列包括三个电容并联。

5.根据权利要求2所述的数字锁相环测试适配器,其特征在于,多个电容并联后,一端与被测器件的C1A管脚相连,另一端与被测器件的C1B管脚相连。

6.根据权利要求4所述的数字锁相环测试适配器,其特征在于,所述电八个电阻阻值分别为:3KΩ、10KΩ、20KΩ、30KΩ、40KΩ、50KΩ、100KΩ和300KΩ;

所述三个电容的容值分别为:0.1uF、39pF和100pF。

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