[实用新型]一种数字锁相环测试适配器

说明书

本实用新型公开了一种数字锁相环测试适配器，基于ATE测试系统V93000，用于适配数字锁相环MC74HC4046，包括：连接器、继电控制器以及电容电阻阵列；所述连接器与测试系统母版相连；所述电容电阻阵列与被测器件相连；所述继电控制器控制所述电容电阻阵列选择不同的电阻和电容，与所述被测器件相连。通过继电控制器控制选择不同的电容电阻组合，适用于数字锁相环不同频率测试，通用性好，能够满足数字PLL器件MC74HC4046的所有输出时钟信号测试要求，进而节约了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及适配器技术领域，特别是指一种数字锁相环测试适配器。

背景技术

由于集成电路自动测试系统及测试适配器技术的限制，数字锁相环PLL(PhaseLocked Loop)器件MC74HC4046的测试适配器，只能测试固定一个频率值，不能完全反映被测器件的真实情况。当需要测试不同频率时，需要再进行相应的适配器设计，开发成本高，周期长。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种通用性好的数字锁相环测试适配器。

基于上述目的本实用新型提供的数字锁相环测试适配器，基于ATE测试系统V93000，用于适配数字锁相环MC74HC4046，包括：连接器、继电控制器以及电容电阻阵列；

所述连接器与测试系统母版相连；

所述电容电阻阵列与被测器件相连；

所述继电控制器控制所述电容电阻阵列选择不同的电阻和电容，与所述被测器件相连。

数字锁相环测试适配器，所述电容电阻阵列包括电阻阵列和电容阵列；

所述电阻阵列包括多个电阻并联，多个电阻并联后一端接地，一端与被测器件相连；

所述电容阵列包括多个电容并联，多个电容并联后两端分别与被测器件的两个对应的管脚相连。

优选的，本实用新型提供的数字锁相环测试适配器，每个电阻的阻值不相同；每个电容的容值不相同。

优选的，本实用新型提供的数字锁相环测试适配器，所述电阻阵列包括八个电阻并联，所述电容阵列包括三个电容并联。

优选的，本实用新型提供的数字锁相环测试适配器，多个电容并联后，一端与被测器件的C1A管脚相连，另一端与被测器件的C1B管脚相连。

优选的，本实用新型提供的数字锁相环测试适配器，所述电八个电阻的阻值分别为：3KΩ、10KΩ、20KΩ、30KΩ、40KΩ、50KΩ、100KΩ和300KΩ。

所述三个电容的容值分别为：0.1uF、39pF和100pF。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的数字锁相环测试适配器，基于ATE测试系统V93000，设置电容电阻阵列，通过继电控制器控制选择不同的电容电阻组合，适用于数字锁相环不同频率测试，通用性好，能够满足数字PLL器件MC74HC4046的所有输出时钟信号测试要求，进而节约了生产成本。

附图说明

图1为本实用新型提供的数字锁相环测试适配器实施例示意图；

图2为本实用新型提供的数字锁相环测试适配器的电阻阵列实施例示意图；

图3为本实用新型提供的数字锁相环测试适配器的电容阵列实施例示意图；

图4为本实用新型提供的数字锁相环测试适配器的继电控制器输出信号实施例示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。