[实用新型]一种新型半导体激光器相位噪声测试装置

权利要求书

1.一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，包括测试机主体（11），其特征在于：所述测试机主体（11）的前端外表面活动安装有旋转底板（1），且旋转底板（1）的上端外表面固定安装有控制键盘（2），所述旋转底板（1）的上端外表面靠近控制键盘（2）的一侧固定安装有触控面板（4），所述测试机主体（11）的前端内表面固定安装有显示面板（3），且测试机主体（11）的前端外表面靠近显示面板（3）的一侧固定安装有控制开关（5），所述测试机主体（11）的前端外表面靠近控制开关（5）的上方活动安装有调节旋钮（6），所述测试机主体（11）的一侧外表面活动安装有伸缩把手（7），所述测试机主体（11）的上端外表面固定安装有散热罩（10），且散热罩（10）的前端内表面活动安装有引风扇（9），所述旋转底板（1）的前端外表面固定安装有密封条（12），且旋转底板（1）的下端外表面活动安装有转动销（13），所述伸缩把手（7）的一侧内表面活动安装有一号伸缩杆（14），且伸缩把手（7）的另一侧内表面活动安装有二号伸缩杆（15），所述伸缩把手（7）的下端外表面固定安装有按钮（19），且伸缩把手（7）的内部内表面靠近按钮（19）的上端活动安装有弹簧销（17），所述伸缩把手（7）的内部内表面靠近弹簧销（17）的一侧活动安装有二号卡扣（18），所述伸缩把手（7）的内部内表面靠近弹簧销（17）的另一侧活动安装有一号卡扣（16），所述测试机主体（11）、显示面板（3）和引风扇（9）均与控制开关（5）电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，其特征在于：所述旋转底板（1）的整体结构为长方体结构，且旋转底板（1）的转动角度范围为零至九十度。

3.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，其特征在于：所述伸缩把手（7）的横截面厚度为两点五厘米，且伸缩把手（7）的伸缩范围为零至十五厘米。

4.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，其特征在于：所述散热罩（10）的散热方式为风冷散热，且散热罩（10）的整体结构为长方体框架结构。

5.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，其特征在于：所述调节旋钮（6）的数量为两组，且调节旋钮（6）的前端外表面固定安装有防滑套。

6.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，其特征在于：所述测试机主体（11）的一侧内表面靠近伸缩把手（7）的上方设有通风网（8）。