[实用新型]一种新型半导体激光器相位噪声测试装置

说明书

本实用新型公开了一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，包括测试机主体，所述测试机主体的前端外表面活动安装有旋转底板，且旋转底板的上端外表面固定安装有控制键盘，所述旋转底板的上端外表面靠近控制键盘的一侧固定安装有触控面板，所述测试机主体的前端内表面固定安装有显示面板，且测试机主体的前端外表面靠近显示面板的一侧固定安装有控制开关，所述测试机主体的前端外表面靠近控制开关的上方活动安装有调节旋钮。本实用新型所述的一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，设有旋转底板、伸缩把手与散热罩，能够对其原有结构进行改进，使得设备的携带更加便捷，增加其自身防尘和散热效果，带来更好的使用前景。

技术领域

本实用新型涉及噪声测试领域，特别涉及一种新型半导体激光器相位噪声测试装置。

背景技术

现有的相位噪声分析测试仪是一款相位噪声和阿伦方差同时测试的高精度噪声测试仪，采用先进的相位测量技术，使用触摸屏、处理器、内存、独显、固态硬盘和工控键盘等，开关机只需十秒左右，几秒以内就出现测试结果，实现图形化用户操作界面，工控键盘与触摸屏均可同时使用，使用操作简单，只需按下开始即可在几秒内进行测试，不需要熟练的技术工程师，就可轻易实现学习和使用；现有的相位噪声测试装置在使用的时候存在一定的弊端，传统相位噪声测试装置在长放置不用的时候，其表面容易沾染灰尘，不具有隔尘结构，相位噪声测试装置携带较为不便，增加了相位噪声测试装置的户外携带难度，传统相位噪声测试装置的散热效果较差，给使用者带来了一定的影响，为此，我们提出一种新型半导体激光器相位噪声测试装置。

发明内容

本实用新型的主要目的在于提供一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种新型半导体激光器相位噪声测试装置，包括测试机主体，所述测试机主体的前端外表面活动安装有旋转底板，且旋转底板的上端外表面固定安装有控制键盘，所述旋转底板的上端外表面靠近控制键盘的一侧固定安装有触控面板，所述测试机主体的前端内表面固定安装有显示面板，且测试机主体的前端外表面靠近显示面板的一侧固定安装有控制开关，所述测试机主体的前端外表面靠近控制开关的上方活动安装有调节旋钮，所述测试机主体的一侧外表面活动安装有伸缩把手，所述测试机主体的上端外表面固定安装有散热罩，且散热罩的前端内表面活动安装有引风扇，所述旋转底板的前端外表面固定安装有密封条，且旋转底板的下端外表面活动安装有转动销，所述伸缩把手的一侧内表面活动安装有一号伸缩杆，且伸缩把手的另一侧内表面活动安装有二号伸缩杆，所述伸缩把手的下端外表面固定安装有按钮，且伸缩把手的内部内表面靠近按钮的上端活动安装有弹簧销，所述伸缩把手的内部内表面靠近弹簧销的一侧活动安装有二号卡扣，所述伸缩把手的内部内表面靠近弹簧销的另一侧活动安装有一号卡扣，所述测试机主体、显示面板和引风扇均与控制开关电性连接。

优选的，所述旋转底板的整体结构为长方体结构，且旋转底板的转动角度范围为零至九十度。

优选的，所述伸缩把手的横截面厚度为两点五厘米，且伸缩把手的伸缩范围为零至十五厘米。

优选的，所述散热罩的散热方式为风冷散热，且散热罩的整体结构为长方体框架结构。

优选的，所述调节旋钮的数量为两组，且调节旋钮的前端外表面固定安装有防滑套。

优选的，所述测试机主体的一侧内表面靠近伸缩把手的上方设有通风网。