[实用新型]一种半导体元器件检测装置有效

专利信息
申请号: 201820171247.3 申请日: 2018-01-31
公开(公告)号: CN207764344U 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 刘德猛 申请(专利权)人: 苏州本之智能系统有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司 44214 代理人: 关家强
地址: 215000 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 传送机构 取件机构 固定架 气缸 底座 半导体元器件 本实用新型 滑动设置 检测装置 吸头 相机 测量技术领域 人力成本 上下移动 支架固定 载盘 支架 驱动 检测
【权利要求书】:

1.一种半导体元器件检测装置,其特征在于,包括:底座、支架、X向移动机构、Y向移动机构、相机、传送机构、载盘和取件机构,所述X向移动机构通过支架固定于底座上,所述Y向移动机构滑动设置于X向移动该机构上,所述相机通过固定架滑动设置于Y向移动机构上,所述传送机构设置于底座上,所述载盘放置于传送机构上,所述取件机构设置于固定架上;

所述取件机构包括第一气缸和吸头,所述第一气缸设置于固定架上,所述吸头在第一气缸的驱动下上下移动。

2.根据权利要求1所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述传送机构由平行设置于的左右两个传送单元构成,所述传送单元包括固定座和设置于固定座上的第一驱动设备、滑轮组和传送带,所述固定座设置于底座上,其中一个所述传送单元的传送带外侧设有由第二气缸驱动的夹板,所述夹板的L向边沿位于传送带上方,且与所述夹板相对应的另一侧传送带上设有压板。

3.根据权利要求2所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述两侧传送带上除夹板处均设有压板。

4.根据权利要求3所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,其中一所述传送单元设置于底座上的滑轨上,所述滑轨延伸方向垂直于传送带移动方向,所述传送单元在第二驱动设备的驱动下可沿滑轨移动。

5.根据权利要求4所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述载盘底部设有滑块。

6.根据权利要求2-5中任一项所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述夹板外侧设有固定于固定座上的限位块,所述传送机构侧设有固定于底座上的收集箱。

7.根据权利要求6所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述传送机构上设有到位传感器。

8.根据权利要求1所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述相机镜头下方设有环形照明灯所述照明灯固定于固定架上。

9.根据权利要求1所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述固定架上设有用于调节相机高度的调节件。

10.根据权利要求1所述的一种半导体元器件检测装置,其特征在于,所述半导体元器件检测装置外罩设有防护罩,且所述防护罩外设有计算机和报警设备。

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