[实用新型]一种可拆卸的芯片测试座有效
| 申请号： | 201820239982.3 | 申请日： | 2018-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN208043877U | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 王鹤立 | 申请（专利权）人： | 深圳市鸿义通仪测有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 唐致明;洪铭福 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 卡座 探针 可拆卸的 底座 本实用新型 芯片测试座 插孔 测试成本 待测芯片 方便维修 探针固定 芯片模组 转接 可拆卸 穿孔 管脚 模组 匹配 节约 | ||
【权利要求书】：
1.一种可拆卸的芯片测试座，其特征在于：其包括底座和卡座，所述底座上设有第一凹槽，所述卡座与所述第一凹槽相匹配，所述第一凹槽的底部设有若干插孔，所述插孔内设置有可拆卸的探针，所述卡座设置有第二凹槽，所述第二凹槽底部设有与若干所述探针相对应的若干穿孔。
2.根据权利要求1所述的可拆卸的芯片测试座，其特征在于：所述第一凹槽底部设有若干凸起，所述卡座上设置有与若干所述凸起一一对应的通孔。
3.根据权利要求1或2所述的可拆卸的芯片测试座，其特征在于：所述第二凹槽具有内置空间，所述内置空间与待测芯片模组大小一致。
4.根据权利要求3所述的可拆卸的芯片测试座，其特征在于：所述第二凹槽为方形。
5.根据权利要求4所述的可拆卸的芯片测试座，其特征在于：所述第二凹槽的其中一组相对立的2个槽边分别设有相对应的缺口。
6.根据权利要求5所述的可拆卸的芯片测试座，其特征在于：所述底座上设有若干圆孔。
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