[实用新型]一种100G光电子器件测试装置

权利要求书

1.一种100G光电子器件测试装置，包括输送带（2）和滑座（11），其特征在于：所述输送带（2）的上部中心固定连接有放置槽（4），且输送带（2）的上部两侧固定连接有导柱（3），所述滑座（11）设置在输送带（2）的上方，所述滑座（11）的下表面滑动安装有滑块（9），所述滑块（9）的下部固定安装有气缸（8），所述气缸（8）的下端固定连接有固定板（7），所述固定板（7）的下部固定连接有导套（6）和固定柱（12），且固定板（7）的下部中心固定安装有测试探针（14），所述固定柱（12）的上部套接有弹簧（13），且固定柱（12）的下部滑动套接有压套（15）。

2.根据权利要求1所述的一种100G光电子器件测试装置，其特征在于：所述弹簧（13）的上端固定连接在固定板（7）的下部，且弹簧（13）的下端固定连接在压套（15）的上部。

3.根据权利要求1所述的一种100G光电子器件测试装置，其特征在于：所述导套（6）的下部开设有便于与导柱（3）滑动套接的喇叭口。

4.根据权利要求1所述的一种100G光电子器件测试装置，其特征在于：所述滑座（11）的下部表面固定连接有用于限制滑块（9）滑动距离的限位块（10）。

5.根据权利要求1所述的一种100G光电子器件测试装置，其特征在于：所述测试探针（14）通过电缆信号线与测试平台的信号采集端信号连接。

6.根据权利要求1所述的一种100G光电子器件测试装置，其特征在于：所述气缸（8）的电控端和驱动输送带（2）的步进电机（1）的电控端分别与DSP控制器（16）的控制输出端电性连接。