[实用新型]一种100G光电子器件测试装置

说明书

本实用新型公开了一种100G光电子器件测试装置，包括输送带和滑座，所述输送带的上部中心固定连接有放置槽，且输送带的上部两侧固定连接有导柱，所述滑座设置在输送带的上方，所述滑座的下表面滑动安装有滑块，所述滑块的下部固定安装有气缸，所述气缸的下端固定连接有固定板，所述固定板的下部固定连接有导套和固定柱，且固定板的下部中心固定安装有测试探针，所述固定柱的上部套接有弹簧，且固定柱的下部滑动套接有压套。通过在输送带上设置导柱，同时在固定板的两侧设置与导柱配合的导套，使得测试探针插针准确；通过在输送带上设置放置槽，将光电子器件准确放置在放置槽内，便于实现自动化在线测试。

技术领域

本实用新型涉及光电子器件测试技术领域，具体为一种100G光电子器件测试装置。

背景技术

光电子器件是利用电-光子转换效应制成的各种功能器件。如半导体光电探测器、光电倍增管、微光像增强器、真空摄像管、CCD和CMOS成像器件、致冷和非致冷红外成像器件、紫外成像器件和X射线成像器件等。

近年来，中国光电子器件制造行业实现了较快发展。在光通信、光显示等应用领域需求不断扩大的刺激下，产品有了更大的突破。尤其是100G光电子器件的出现，在生产时，由于100G光电子器件的集成化更高，插口更为密集，普通的在线测试装置无法进行准确定位，现有的多采用人工测试，工作量大，效率低，浪费大量人力，无法实现自动化在线测试。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种100G光电子器件测试装置，对针准确，可在输送线上进行测试，便于实现自动化，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种100G光电子器件测试装置，包括输送带和滑座，所述输送带的上部中心固定连接有放置槽，且输送带的上部两侧固定连接有导柱，所述滑座设置在输送带的上方，所述滑座的下表面滑动安装有滑块，所述滑块的下部固定安装有气缸，所述气缸的下端固定连接有固定板，所述固定板的下部固定连接有导套和固定柱，且固定板的下部中心固定安装有测试探针，所述固定柱的上部套接有弹簧，且固定柱的下部滑动套接有压套。

优选的，所述弹簧的上端固定连接在固定板的下部，且弹簧的下端固定连接在压套的上部。

优选的，所述导套的下部开设有便于与导柱滑动套接的喇叭口。

优选的，所述滑座的下部表面固定连接有用于限制滑块滑动距离的限位块。

优选的，所述测试探针通过电缆信号线与测试平台的信号采集端信号连接。

优选的，所述气缸的电控端和驱动输送带的步进电机的电控端分别与DSP控制器的控制输出端电性连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过在输送带上设置导柱，同时在固定板的两侧设置与导柱配合的导套，使得测试探针插针准确；

2、通过在输送带上设置放置槽，将光电子器件准确放置在放置槽内，便于实现自动化在线测试。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型输送带的俯视结构示意图；

图3为本实用新型固定板的测试结构示意图；

图4为本实用新型的电性连接框图。

图中：1步进电机、2输送带、3导柱、4放置槽、5支撑板、6导套、7固定板、8气缸、9滑块、10限位块、11滑座、12固定柱、13弹簧、14测试探针、15压套、16 DSP控制器。

具体实施方式