[实用新型]晶振电性能检测进料机构有效
| 申请号： | 201820351773.8 | 申请日： | 2018-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN208140842U | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 侯明永 | 申请（专利权）人： | 重庆晶宇光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 | 代理人： | 杨柳 |
| 地址： | 402160 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 拨料盘 定位盘 本实用新型 电性能检测 进料机构 转动连接 电性能 检测槽 晶振 电性能检测装置 圆心 槽轮机构 测试装置 出料机构 电机固定 内固定 拨爪 种晶 电机 | ||
1.一种晶振电性能检测进料机构，其特征在于：包括机架，所述机架上转动连接有定位盘，所述定位盘上沿径向开有检测槽，所述检测槽内固定连接有电性能检测机构和出料机构，机架上还转动连接有拨料盘，所述拨料盘上沿径向设有拨爪，所述拨料盘与定位盘组成槽轮机构，所述拨料盘圆心固定连接有电机，电机固定连接于机架内。
2.根据权利要求1所述的一种晶振电性能检测进料机构，其特征在于：所述出料机构位于检测槽靠近定位盘圆心的一端，所述出料机构包括与检测槽滑动连接的推板，所述推板与检测槽靠近定位盘圆心的一端之间固定连接有压簧。
3.根据权利要求2所述的一种晶振电性能检测进料机构，其特征在于：所述电性能检测机构包括检测装置，与检测装置相连的第一导线以及设于第一导线另一端的弹性触片，所述定位盘与机架转动连接处固定连接有导电环，所述弹性触片与导电环滑动连接，所述导电环远离弹性触片的一侧连接有第二导线，检测槽靠近定位盘圆心的一端设有插槽，所述第二导线端部位于插槽内并固定连接有第一触头，所述推板靠近第一触头一侧与第一触头对应的位置设有第二触头，所述第二触头另一端位于推板远离第一触头的一面。
4.根据权利要求3所述的一种晶振电性能检测进料机构，其特征在于：所述推板远离定位盘圆心的一面上设有缓冲层。
5.根据权利要求4所述的一种晶振电性能检测进料机构，其特征在于：所述定位盘内部设有空腔，所述第二导线位于空腔内部。
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