[实用新型]晶振电性能检测进料机构

说明书

本实用新型属于电性能的测试装置，具体公开了一种晶振电性能检测进料机构，包括机架，所述机架上转动连接有定位盘，所述定位盘上沿径向开有检测槽，所述检测槽内固定连接有电性能检测机构和出料机构，机架上还转动连接有拨料盘，所述拨料盘上沿径向设有拨爪，所述拨料盘与定位盘组成槽轮机构，所述拨料盘圆心固定连接有电机，电机固定连接于机架内。本实用新型的目的在于解决现有的晶振电性能检测装置结构复杂的问题。

技术领域

本实用新型属于电性能的测试装置，具体公开了一种晶振电性能检测进料机构。

背景技术

石英晶体振荡器又称为晶振，晶振是高精度和高稳定度的振荡器，被广泛应用于彩电、计算机、遥控器等各类震荡电路中，以及通信系统中用于频率发生器、为数据处理设备产生时钟信号和为特定系统提供基准信号。

在晶振的生产加工流程中，电性能检测是十分重要的一步，晶振在出厂前需要先经过电性能检测，只有电性能合格的晶振才可以出厂售卖，而现有的晶振电性能检测装置结构复杂，从而导致检测成本高。

实用新型内容

本实用新型公开了一种晶振电性能检测进料机构，本实用新型的目的在于解决现有的晶振电性能检测装置结构复杂的问题。

本实用新型的基础方案为：一种晶振电性能检测进料机构，包括机架，所述机架上转动连接有定位盘，所述定位盘上沿径向开有检测槽，所述检测槽内固定连接有电性能检测机构和出料机构，机架上还转动连接有拨料盘，所述拨料盘上沿径向设有拨爪，所述拨料盘与定位盘组成槽轮机构，所述拨料盘圆心固定连接有电机，电机固定连接于机架内。

本实用新型的技术原理和有益效果在于：

本实用新型通过设置定位盘和拨料盘，使得当电机启动时，带动拨料盘转动，进而使得拨爪随着拨料盘一同转动，由于拨料盘与定位盘之间组成槽轮机构，因此随着拨爪的转动，晶振便被拨爪推入检测槽中，晶振进入检测槽后便与电性能检测机构接触，从而对晶振的电性能进行检测，由于拨料盘与定位盘构成槽轮机构，因此随着拨料盘的转动，拨爪从检测槽中滑出，此时晶振不再被拨爪抵住，从而使得晶振在出料机构的作用下从检测槽中移出，完成晶振的出料，通过上述设计，使得本实用新型的结构相较于现有技术结构更为简单。

进一步，所述出料机构位于检测槽靠近定位盘圆心的一端，所述出料机构包括与检测槽滑动连接的推板，所述推板与检测槽靠近定位盘圆心的一端之间固定连接有压簧。通过上述设计，使得当拨爪不再抵住晶振时，推板在压簧的作用下便将晶振从检测槽中推出。

进一步，所述电性能检测机构包括检测装置，与检测装置相连的第一导线以及设于第一导线另一端的弹性触片，所述定位盘与机架转动连接处固定连接有导电环，所述弹性触片与导电环滑动连接，所述导电环远离弹性触片的一侧连接有第二导线，检测槽靠近定位盘圆心的一端设有插槽，所述第二导线端部位于插槽内并固定连接有第一触头，所述推板靠近第一触头一侧与第一触头对应的位置设有第二触头，所述第二触头另一端位于推板远离第一触头的一面。通过上述设计，使得第一导线通过弹性触片与导电环接触，进而通过导电环与第二导线连通，从而使得当推板被推动至第二触头插入插槽中与第一触头接触时便使得电信号沿着第一导线、导电环、第二导线、第一触头及第二触头的路线最终传导至晶振上，实现对晶振的电性能检测。

进一步，所述推板远离定位盘圆心的一面上设有缓冲层。通过上述设计，使得晶振与缓冲层的接触面积相比与晶振与推板的接触面积更大，从而减少推板对晶振的压力，进而防止晶振损坏。

进一步，所述定位盘内部设有空腔，所述第二导线位于空腔内部。通过上述设计，使得本装置结构更为紧凑。

附图说明

图1为本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例中定位盘与拨料盘的俯视图；

图3为本实用新型实施例中定位盘沿轴向剖切的剖视图。