[实用新型]一种集成电路封装结构有效

专利信息
申请号: 201820491360.X 申请日: 2018-04-09
公开(公告)号: CN209104149U 公开(公告)日: 2019-07-12
发明(设计)人: 奚志成;陈汉宗;丁振峰 申请(专利权)人: 东莞矽德半导体有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/04;H01L23/10
代理公司: 北京汇彩知识产权代理有限公司 11563 代理人: 彭逊
地址: 523000 *** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 封装盖 集成电路封装结构 封装盒 密封垫 铭牌 本实用新型 封装槽 引脚线 芯片 集成电路封装 注塑 电信号传递 芯片封装 粘贴密封 抗氧化 密封盖 密封盒 密封胶 引脚孔 热熔 位柱 保证
【权利要求书】:

1.一种集成电路封装结构,其特征在于:包括封装盒(1)、封装盖(2)、密封垫(13),所述封装盒(1)上设置有所述封装盖(2),所述封装盖(2)上设置有第一铭牌(4),所述第一铭牌(4)一侧设置有第二铭牌(5),所述封装盖(2)下设置有限位柱(15),所述封装盖(2)圆周上设置有密封胶(3),所述封装盒(1)上设置有封装槽(8),所述封装槽(8)内设置有第一凹槽(9),所述第一凹槽(9)内设置有第一芯片(7),所述第一芯片(7)上设置有引脚线(6),所述第一凹槽(9)上设置有所述密封垫(13),所述密封垫(13)上设置有引脚孔(14),所述第一凹槽(9)一侧设置有第二凹槽(11),所述第二凹槽(11)内设置有第二芯片(12),所述第二凹槽(11)一侧设置有限位孔(10)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路封装结构,其特征在于:所述封装槽(8)的面积大于所述封装盖(2)的面积,所述封装盖(2)和所述封装盒(1)使用所述密封胶(3)粘贴在一起。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路封装结构,其特征在于:所述限位柱(15)和所述限位孔(10)使用过渡配合,所述限位柱(15)和所述限位孔(10)分别设置有2个,所述限位柱(15)铸造在所述封装盖(2)下。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路封装结构,其特征在于:所述第一铭牌(4)和所述第二铭牌(5)铆接在所述封装盖(2)上,所述第一芯片(7)和所述第一凹槽(9)使用间隙配合,所述第二芯片(12)和所述第二凹槽(11)使用间隙配合。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路封装结构,其特征在于:所述引脚线(6)分别焊接在所述第一芯片(7)和所述第二芯片(12)下,所述引脚线(6)穿过所述引脚孔(14),所述引脚孔(14)与所述引脚线(6)使用过盈配合。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路封装结构,其特征在于:所述密封垫(13)分别粘贴在所述第一凹槽(9)和所述第二凹槽(11)内,所述引脚孔(14)分别穿过所述密封垫(13)和所述封装盒(1)。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路封装结构,其特征在于:所述第一芯片(7)的高度小于所述第一凹槽(9)的深度,所述第二芯片(12)的高度小于所述第二凹槽(11)的深度。

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